อุปกรณ์ทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ใช้สำหรับตรวจสอบการทำงานและประสิทธิภาพของอุปกรณ์ หมวดหมู่นี้ประกอบด้วยระบบ ATE (SoC, สัญญาณผสม, PMIC), เครื่องมือจัดการชิ้นงานทดสอบ (แบบหยิบและวาง, แบบใช้แรงโน้มถ่วง, แบบหมุนได้) และสถานีทดสอบ (แบบแมนนวล, แบบกึ่งอัตโนมัติ, แบบอัตโนมัติ) ปัจจัยสำคัญในการเลือก ได้แก่ อินเทอร์เฟซของเครื่องทดสอบ จำนวนไซต์ ช่วงอุณหภูมิ และรูปแบบของแพ็คเกจ
อุปกรณ์แต่ละประเภทด้านล่างจะนำคุณไปยังหน้าเฉพาะที่มีข้อมูลผลิตภัณฑ์ รายละเอียดระดับรุ่น และตัวเลือกการสอบถามเพิ่มเติม
หัววัดจะแตะลงบนแผ่นรองชิปเพื่อวัดประสิทธิภาพทางไฟฟ้าและส่งสัญญาณ นั่นคือสถานีวัด (Probe Station) ซึ่งเป็นอุปกรณ์สำหรับการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์
Test Handler ทำหน้าที่จัดการและดำเนินการทดสอบซอฟต์แวร์ เช่น การกำหนดตารางเวลาการทดสอบ การประมวลผลข้อมูล การบันทึกผลลัพธ์ และการสร้างรายงานสำหรับการทดสอบแบบอัตโนมัติ
ระบบ ATE คือฮาร์ดแวร์และซอฟต์แวร์สำหรับการทดสอบอัตโนมัติของเซมิคอนดักเตอร์หรือชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ซึ่งประกอบด้วยการดำเนินการทดสอบ การเก็บรวบรวมข้อมูล และการตัดสินผลว่าผ่านหรือไม่ผ่าน
ใช้หน้าหมวดหมู่นี้เพื่อระบุประเภทอุปกรณ์ที่ถูกต้องก่อน จากนั้นจึงเข้าสู่การอธิบายในระดับผลิตภัณฑ์ซึ่งมีข้อมูลทางเทคนิคและเชิงพาณิชย์ที่ครบถ้วนยิ่งขึ้น
เริ่มต้นจากวัตถุประสงค์ของกระบวนการหรือประเภทของเครื่องจักร หากยังไม่มีหมายเลขรุ่นของอุปกรณ์ที่สมบูรณ์
โปรดแชร์ข้อมูลป้ายชื่อเครื่องจักร รูปภาพเครื่องจักร ข้อมูลจำเพาะ หรือข้อกำหนดด้านการกำหนดค่าที่มีอยู่
โปรดชี้แจงว่าคำขอเกี่ยวข้องกับอุปกรณ์มือสอง อุปกรณ์ที่ได้รับการปรับปรุงใหม่ สินค้าคงคลังที่มีอยู่ หรือเป้าหมายการจัดหาที่เฉพาะเจาะจง
โปรดระบุประเทศปลายทาง ระยะเวลาการจัดส่งที่ต้องการ และลักษณะบรรจุภัณฑ์ที่ต้องการ เพื่อให้การประเมินราคาเป็นไปอย่างครบถ้วนยิ่งขึ้น
การแจ้งความต้องการเบื้องต้นที่ครบถ้วนมากขึ้นจะช่วยลดการส่งข้อมูลไปมาโดยไม่จำเป็น และทำให้ระบุประเภทอุปกรณ์ ทิศทางการกำหนดค่า และเส้นทางการจัดหาได้ง่ายขึ้น