การทดสอบเวเฟอร์ · การซ่อมแซมและการปรับปรุงใหม่

การ์ดโพรบ ซ่อมแซม

การติดต่อที่ไม่เสถียรทำให้เสียเวลาในการทดสอบ GK-SEMI ให้บริการซ่อมแซมและปรับปรุงแผงวงจรทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ที่ได้รับผลกระทบจากปลายหัวทดสอบสึกหรอ การสัมผัสไม่ดี และปัญหาการจัดตำแหน่ง กู้คืนแผงวงจรเดิมที่ใช้งานได้ก่อนที่จะตัดสินใจเปลี่ยนใหม่ซึ่งมีค่าใช้จ่ายสูง

โปรดส่งข้อมูลบัตรประจำตัวประชาชน อาการที่พบ และรูปถ่ายบริเวณที่สัมผัส เพื่อเริ่มกระบวนการ

คำแนะนำและการติดต่อเพื่อการกู้คืน
การจัดแนวและระนาบ
การตรวจสอบระบบไฟฟ้า
การจัดหาชิ้นส่วนทดแทน

สิ่งที่เราซ่อมแซม

บริการซ่อมการ์ดโพรบ

การสัมผัสผิดพลาดซ้ำๆ ความต้านทานการสัมผัสที่เพิ่มขึ้น และความล้มเหลวในการทดสอบเฉพาะจุด อาจทำให้การ์ดที่ยังใช้งานได้ดูเหมือนใช้การไม่ได้ เราจึงมุ่งเน้นการซ่อมแซมไปที่จุดสัมผัสที่ได้รับผลกระทบและโครงสร้างของตัวการ์ดเอง แทนที่จะมองว่าทุกความล้มเหลวเป็นเหตุผลในการเปลี่ยนชุดประกอบทั้งหมด

01

ติดต่อฝ่ายทำความสะอาดและฟื้นฟู

แก้ไขปัญหาการเกิดออกซิเดชัน เศษสิ่งสกปรก และการปนเปื้อนที่หน้าสัมผัส ซึ่งเป็นสาเหตุของการเปิดวงจรเป็นระยะ การตรวจสอบซ้ำหลายครั้ง และความต้านทานการสัมผัสที่เพิ่มขึ้น วิธีการทำความสะอาดและปรับสภาพใหม่จะถูกเลือกให้เหมาะสมกับวัสดุของหัววัดและรูปแบบการออกแบบของแผงวงจร

02

ปลายหัววัดและการจัดตำแหน่ง

ตรวจสอบปลายเข็มที่สึกหรอ งอ หรือเคลื่อนที่ ประเมินการปรับรูปทรง การเปลี่ยนเข็ม หรือการจัดแนวเฉพาะจุด หากการ์ดอนุญาต ตรวจสอบรูปทรงของปลายเข็ม ตำแหน่ง X/Y และระนาบ Z เทียบกับลักษณะการใช้งาน แทนที่จะปรับแต่งทีละอย่างสำหรับการ์ดทุกใบ

03

การตรวจสอบระบบไฟฟ้าและการส่งคืน

ตรวจสอบความต่อเนื่อง ความต้านทานการสัมผัส (Cres) และเส้นทางไฟฟ้าที่เกี่ยวข้อง หลังจากแก้ไขงานที่ได้รับการอนุมัติแล้ว ให้แจ้งผลการตรวจสอบและการทดสอบบนแท่นทดสอบ รวมถึงร่องรอยการขัดถูหรือการยืนยันการสัมผัสใดๆ ที่ควรอยู่ในชุดทดสอบเวเฟอร์ของลูกค้า

Representative semiconductor wafer-test vertical probe card assembly with fine contact array
โครงสร้างของการ์ดมีความสำคัญ วิธีการซ่อมแซมการ์ดแบบคานยื่น การ์ดแนวตั้ง และการ์ด MEMS ไม่เหมือนกัน การทำงานที่ระดับปลายและการตรวจสอบการยอมรับนั้นขึ้นอยู่กับการออกแบบและความเสียหายเฉพาะ โดยเฉพาะอย่างยิ่งสำหรับโครงสร้างที่มีระยะห่างระหว่างขาแคบและโครงสร้างขั้นสูง

ทำไมต้องร่วมงานกับเรา?

เก็บบัตรต้นฉบับไว้

การ์ดใหม่จะต้องพอดีกับเวเฟอร์ อินเทอร์เฟซของเครื่องทดสอบ และการตั้งค่าการทดสอบที่ติดตั้งไว้ การซ่อมแซมการ์ดเดิมสามารถช่วยรักษาความพอดีนั้นไว้ได้ ในขณะเดียวกันก็แก้ไขปัญหาการเชื่อมต่อที่ล้มเหลวด้วย

01 / การทดสอบแผ่นเวเฟอร์

หาวิธีแก้ไขปัญหาเมื่อเกิดความล้มเหลว

เราเริ่มต้นด้วยการตรวจสอบรูปแบบการสัมผัสที่ผิดพลาด อาการที่เกิดขึ้น และสภาพของแผงวงจรที่มีอยู่ ซึ่งจะช่วยแยกความเสียหายของแผงวงจรออกจากปัญหาการจัดตำแหน่งของโพรบ หรือปัญหาอื่นๆ ในเซลล์ทดสอบ ก่อนที่จะตกลงแนวทางการซ่อมแซม

02 / มูลค่าบัตร

รักษารูปแบบการทำงานเดิมไว้

การซ่อมแซมแบบเจาะจงมีจุดมุ่งหมายเพื่อกู้คืนหน้าสัมผัสที่ใช้งานได้โดยไม่เปลี่ยนแปลงอินเทอร์เฟซการ์ด รูปแบบแผ่นรอง หรือการกำหนดค่าการทำงานโดยไม่จำเป็น ขอบเขตการซ่อมแซมจะสอดคล้องกับสิ่งที่การออกแบบการ์ดสามารถรองรับได้อย่างปลอดภัย

03 / การสนับสนุนด้านการจัดหา

ซ่อมแซมหรือค้นหาคู่ที่ตรงกัน

เมื่อความเสียหายทำให้การซ่อมแซมเป็นไปไม่ได้ เส้นทางการจัดหาชิ้นส่วนของเราจะช่วยให้ขั้นตอนต่อไปดำเนินต่อไปได้ การจับคู่ชิ้นส่วนทดแทนจะพิจารณาจากประเภทของการ์ด รูปแบบแผงอุปกรณ์ การเชื่อมต่อเครื่องทดสอบ และการใช้งาน ไม่ใช่เพียงแค่รูปลักษณ์ภายนอกเท่านั้น

กำลังดำเนินการตั้งค่าการทดสอบในวงกว้างอยู่ใช่ไหม? สำรวจเพิ่มเติม การซ่อมแซมบอร์ดสถานีโพรบ, การซ่อมบอร์ด ATE หรือ การจัดหาชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์.

จากความผิดพลาดสู่การตัดสินใจ

ขั้นตอนการซ่อมแซมจะดำเนินต่อไปอย่างไร

เรามุ่งเน้นการประเมินไปที่ความล้มเหลวที่รายงานและแบบแผนการออกแบบการ์ดตรวจสอบจริง การตรวจสอบที่ตกลงกันไว้จะแยกแยะงานที่เสร็จสมบูรณ์บนการ์ดออกจากการยืนยันขั้นสุดท้ายบนเครื่องทดสอบเวเฟอร์

01

ระบุบัตร

ตรวจสอบหมายเลขชิ้นส่วน ประเภทการ์ด การใช้งานทดสอบ และรูปแบบความล้มเหลว

02

ตรวจสอบรายชื่อผู้ติดต่อ

ตรวจสอบร่องรอยการสึกหรอของปลายหัววัด การปนเปื้อน การจัดแนว และสภาพของพื้นผิวที่มองเห็นได้

03

ตกลงขอบเขตงาน

กำหนดวิธีการแก้ไขที่ทำได้จริง การตรวจสอบที่จำเป็น และข้อจำกัดสำหรับการสร้างการ์ดนั้น

04

ดำเนินการซ่อมแซม

ทำความสะอาดตามที่ได้รับอนุมัติอย่างครบถ้วน รวมถึงงานซ่อมปลายหัวฉีดเฉพาะจุด หรือการปรับแนวหัวฉีดให้ถูกต้อง

05

ตรวจสอบผลลัพธ์

ตรวจสอบรูปทรงเรขาคณิตของการสัมผัส ความต่อเนื่อง และค่า Cre ที่เกี่ยวข้องเท่าที่จะวัดได้

06

กลับสู่การทดสอบ

รายงานขอบเขตการทำงานบนโต๊ะทำงานและการตรวจสอบบนเครื่องมือที่จำเป็นหลังจากประกอบชิ้นส่วนใหม่เสร็จ

ประสบการณ์การซ่อม

ความเสถียรของหน้าสัมผัส กลับคืนมาแล้ว

ภาพแสดงการ์ดวัดแรงดันไฟฟ้าแนวตั้งที่มีจุดสัมผัสบกพร่องเฉพาะที่ แสดงให้เห็นว่าเหตุใดการตรวจสอบในระดับการ์ดจึงสามารถเปลี่ยนแปลงการตัดสินใจในการเปลี่ยนการ์ดได้

การ์ดแนวตั้งที่ส่งคืนเพื่อทดสอบ

ปัญหา. สายการผลิตทดสอบเวเฟอร์พบว่ามีอัตราความล้มเหลวในการสัมผัสเพิ่มขึ้นอย่างมากบนแผงวงจรโพรบแนวตั้ง กำลังพิจารณาเปลี่ยนชุดประกอบดังกล่าว โดยมีระยะเวลารอคอยชิ้นส่วนจากผู้ผลิตอุปกรณ์ดั้งเดิม (OEM) ที่ค่อนข้างยาวนาน

สิ่งที่พบจากการตรวจสอบ ความผิดปกติที่ตรวจพบนั้นกระจุกตัวอยู่ในบริเวณเดียว พบการเกิดออกซิเดชันเฉพาะจุดและการเบี่ยงเบนของระนาบเพียงเล็กน้อย ไม่ใช่ความเสียหายที่ต้องเปลี่ยนการ์ดทั้งแผ่น

การซ่อมแซมและผลลัพธ์ ได้ทำการทำความสะอาดจุดสัมผัสที่ได้รับผลกระทบและแก้ไขสภาพความเรียบของพื้นผิวที่เกี่ยวข้องแล้ว พฤติกรรมของจุดสัมผัสกลับมาเสถียร และการ์ดเดิมถูกส่งกลับไปใช้งานในสายการผลิตอีกครั้ง ซึ่งช่วยหลีกเลี่ยงการเปลี่ยนการ์ดทั้งใบในทันที

ขอบเขตการตรวจสอบ การตรวจสอบในระดับการ์ดเป็นข้อมูลประกอบการตัดสินใจซ่อมแซม ประสิทธิภาพการสัมผัสขั้นสุดท้ายได้รับการยืนยันในแอปพลิเคชันทดสอบเวเฟอร์ที่ติดตั้งไว้

บัตรต้นฉบับเก็บไว้สำหรับแอปพลิเคชันทดสอบที่มีอยู่
การฟื้นฟูเป้าหมายปัญหาการปนเปื้อนจากการสัมผัสและปัญหาความเรียบเฉพาะจุดได้รับการแก้ไขแล้ว
ระยะเวลาการผลิตแบบ OEM 4 สัปดาห์ในกรณีนี้ไม่ต้องรอระยะเวลารอเปลี่ยนสินค้า ซึ่งไม่ใช่การเรียกร้องค่าบริการตามปกติ

อ้างอิงจากประสบการณ์การซ่อม ผลลัพธ์และระยะเวลาดำเนินการเกี่ยวข้องกับแผงวงจรและการตั้งค่าการทดสอบนี้

คำถามที่พบบ่อย

คำถามที่พบบ่อยเกี่ยวกับการซ่อมการ์ดโพรบ

คำตอบที่ใช้งานได้จริงเกี่ยวกับประเภทบัตร ปัญหาการติดต่อ เช็คคืน และตัวเลือกการขอเปลี่ยนบัตร

คุณสามารถซ่อมเข็มตรวจที่งอหรือหักได้หรือไม่?

การออกแบบคานยื่นบางแบบช่วยให้สามารถยืดตรงเฉพาะจุดหรือเปลี่ยนเข็มได้ โครงสร้างแนวตั้งและโครงสร้าง MEMS อาจมีข้อจำกัดที่แตกต่างกัน เราจะตรวจสอบโครงสร้างจริงและขอบเขตของความเสียหายก่อนที่จะเสนอวิธีการแก้ไข

การทำความสะอาดจะช่วยแก้ปัญหาการตรวจสอบซ้ำที่ล้มเหลวซ้ำๆ ได้หรือไม่?

เฉพาะกรณีที่เกิดจากการปนเปื้อนเท่านั้น ปลายหัววัดที่สึกหรอ ความเรียบของพื้นผิว การจัดตำแหน่งของหัววัด และสภาวะการทดสอบ อาจทำให้เกิดอาการคล้ายกันได้ โปรดแจ้งรูปแบบความล้มเหลวเพื่อให้สามารถตรวจสอบสาเหตุที่ถูกต้องได้

การปรับรูปทรงสามารถเปลี่ยนแปลงรอยขัดถูได้หรือไม่?

ใช่แล้ว รูปทรง ตำแหน่ง และระยะการเคลื่อนที่ของหัวขัดมีผลต่อพฤติกรรมการขัดถู หากจำเป็นต้องปรับรูปทรง ควรคำนึงถึงขนาดของแผ่นรองและข้อกำหนดการสัมผัสที่เกี่ยวข้อง และยืนยันการขัดถูขั้นสุดท้ายบนอุปกรณ์ของลูกค้า

หลังจากซ่อมเสร็จแล้ว จะตรวจสอบการ์ดโพรบอย่างไร?

การตรวจสอบขึ้นอยู่กับแผ่นวงจรและขอบเขตที่ตกลงกันไว้ การตรวจสอบอาจรวมถึงสภาพที่มองเห็นได้ ตำแหน่ง ความต่อเนื่อง และความต้านทานการสัมผัส ผลผลิตจากการทดสอบแผ่นเวเฟอร์ขั้นสุดท้ายและประสิทธิภาพการขัดถูต้องได้รับการยืนยันภายใต้เงื่อนไขการทดสอบที่ติดตั้งไว้

การ์ดโพรบแบบแนวตั้งหรือแบบ MEMS ทุกตัวสามารถซ่อมแซมได้หรือไม่?

ไม่ โครงสร้างบางแบบมีเส้นทางการซ่อมแซมที่จำกัด และความเสียหายต่อชุดหัววัดหรือพื้นผิวอาจทำให้การเปลี่ยนใหม่มีความเหมาะสมมากกว่า เราประเมินการออกแบบการ์ดมากกว่าที่จะรับประกันการครอบคลุมทุกกรณี

จะทำอย่างไรหากไม่สามารถกู้คืนข้อมูลจากบัตรต้นฉบับได้?

เราสามารถหารือเกี่ยวกับการจัดหาอุปกรณ์ทดแทนที่เข้ากันได้ โปรดระบุข้อมูลประจำตัวของการ์ด อินเทอร์เฟซของเครื่องทดสอบ รูปแบบแผงอุปกรณ์ และแอปพลิเคชันที่ใช้ทดสอบ เพื่อช่วยในการคัดเลือกตัวเลือกที่เหมาะสม

คุณยังคงให้การสนับสนุนการ์ดโพรบที่เลิกผลิตแล้วหรือไม่?

การ์ดรุ่นเก่าสามารถประเมินเพื่อซ่อมแซมได้ หากจำเป็นต้องใช้ชิ้นส่วนหรือเปลี่ยนใหม่ทั้งหมด จะมีการตรวจสอบความพร้อมใช้งานและความเข้ากันได้กับตัวการ์ดนั้นๆ

ฉันควรส่งเอกสารอะไรไปสำหรับการสอบถามเรื่องการซ่อมแซม?

เริ่มต้นด้วยรุ่นหรือหมายเลขชิ้นส่วน รูปถ่ายที่ชัดเจนของแผ่นวงจรและบริเวณปลายหัววัด การใช้งานเครื่องทดสอบหรือเครื่องตรวจสอบ และปัญหาการสัมผัสที่พบ ข้อมูลการทดสอบจะช่วยได้ แต่ไม่จำเป็นสำหรับการพูดคุยครั้งแรก

ติดต่อทีมซ่อมของเราได้เลย

กู้คืนการ์ดโพรบของคุณ

โปรดแจ้งให้เราทราบว่าการเชื่อมต่อมีปัญหาที่จุดใด และใช้การ์ดเครือข่ายชนิดใด ทีมงานของเราจะหารือเกี่ยวกับแนวทางการซ่อมแซมที่เหมาะสม การตรวจสอบที่เกี่ยวข้อง และตัวเลือกการเปลี่ยนทดแทนที่เหมาะสม หากการซ่อมแซมไม่สามารถทำได้

ขอรับการสนับสนุนการ์ดตรวจสอบ ↗