01
ตัวจัดการทดสอบ
ระบบจัดการไอซีอัตโนมัติสำหรับการโหลดอุปกรณ์ การปรับสภาพอุณหภูมิ การสัมผัสทดสอบ การคัดแยกผลลัพธ์ และการขนถ่ายอย่างควบคุมได้ระหว่างการทดสอบขั้นสุดท้าย
โซลูชันการทดสอบและการจัดการเซมิคอนดักเตอร์
โซลูชันอุปกรณ์ทดสอบและจัดการเซมิคอนดักเตอร์
สำรวจโซลูชันอุปกรณ์สำหรับการตรวจสอบระดับเวเฟอร์ การจัดการอุปกรณ์บรรจุภัณฑ์ การทดสอบทางไฟฟ้า การปรับสภาพความร้อน และการคัดแยกผลลัพธ์อัตโนมัติ เราช่วยผู้ผลิตเซมิคอนดักเตอร์ โรงงาน OSAT และฝ่ายปฏิบัติการทดสอบระบุเครื่องมือจัดการการทดสอบ ระบบ ATE สถานีตรวจสอบ และขอบเขตการสนับสนุนที่เหมาะสมกับอุปกรณ์ ขั้นตอนการทดสอบ และเป้าหมายการผลิตจริง
มุมมองกระบวนการทดสอบ
วางแผนเส้นทางการติดตั้งอุปกรณ์โดยคำนึงถึงตัวอุปกรณ์ อินเทอร์เฟซของเครื่องทดสอบ ช่วงอุณหภูมิ และปริมาณการผลิตที่ต้องการ
โซลูชันนี้ครอบคลุมอะไรบ้าง
อุปกรณ์ทดสอบและจัดการเซมิคอนดักเตอร์ระบบนี้จะเคลื่อนย้ายแผ่นเวเฟอร์หรือไอซีที่บรรจุแล้วไปยังตำแหน่งทดสอบที่ควบคุมได้ สร้างการสัมผัสทางไฟฟ้าที่เชื่อถือได้ จัดการอุณหภูมิที่ต้องการ และแยกอุปกรณ์ตามผลการทดสอบ โซลูชันที่สมบูรณ์อาจประกอบด้วยเครื่องตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์หรือเครื่องจัดการทดสอบ ระบบ ATE ฮาร์ดแวร์สำหรับการสัมผัส ชุดเปลี่ยน การควบคุมอุณหภูมิ และฟังก์ชันการคัดแยกอัตโนมัติ
หมวดหมู่อุปกรณ์หลัก
สามส่วนหลักสำหรับอุปกรณ์ทดสอบเซมิคอนดักเตอร์
เลือกเส้นทางอุปกรณ์ตามความต้องการของโครงการ ไม่ว่าจะเป็นการตรวจสอบระดับเวเฟอร์ การทำงานอัตโนมัติของอุปกรณ์บรรจุภัณฑ์ หรือการทดสอบทางไฟฟ้า
ต้องประเมินความเข้ากันได้ของอุปกรณ์โดยพิจารณาจากรูปแบบของอุปกรณ์ ขั้นตอนการทดสอบ อินเทอร์เฟซของเครื่องทดสอบ วิธีการสัมผัส และผลผลิตที่คาดหวัง
02
ระบบ ATE
อุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติสำหรับใช้โปรแกรมทดสอบทางไฟฟ้า วัดประสิทธิภาพของอุปกรณ์ และสร้างผลลัพธ์ว่าผ่าน ไม่ผ่าน และจัดกลุ่ม
03
สถานีทดสอบและเครื่องตรวจสอบเวเฟอร์
แท่นวางเวเฟอร์ที่มีความแม่นยำสูงและแท่นสัมผัสหัววัดสำหรับการตรวจสอบวงจร การวัดทางไฟฟ้าในระดับเวเฟอร์ และการระบุชิ้นส่วนที่ดีที่ทราบแล้ว
สำรวจสถานีสำรวจ →
ตำแหน่งที่เหมาะสมของอุปกรณ์
ตั้งแต่การตรวจสอบเวเฟอร์จนถึงการทดสอบขั้นสุดท้ายและการคัดแยกอุปกรณ์
การทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ไม่ได้ขึ้นอยู่กับตัวทดสอบเพียงอย่างเดียว การจัดวางอุปกรณ์ ความสามารถในการสัมผัสซ้ำได้ ความเสถียรของอุณหภูมิ เวลาในการทดสอบ และตรรกะการคัดแยก ต้องทำงานร่วมกันเพื่อให้ได้ผลลัพธ์ที่น่าเชื่อถือและประสิทธิภาพในการผลิต
01
การตรวจสอบวงจรระดับเวเฟอร์
วางแผ่นเวเฟอร์ให้ถูกต้อง จัดแนวส่วนต่อประสานของโพรบ และระบุชิ้นส่วนที่ยอมรับได้ทางไฟฟ้าก่อนทำการตัดแบ่ง
02
การโหลดอุปกรณ์และการปรับสภาพความร้อน
โหลดอุปกรณ์ที่บรรจุหีบห่อโดยอัตโนมัติและรักษาอุณหภูมิการทดสอบที่ต้องการก่อนทำการสัมผัส สำหรับชิ้นส่วนที่ป้อนจำนวนมากที่เข้ากันได้ ระบบป้อนอาหารแบบสั่นสะเทือนตามสั่ง สามารถแยก จัดวาง และเคลื่อนย้ายชิ้นส่วนไปยังช่องทางเข้าของเครื่องจัดการหรือส่วนเชื่อมต่อระบบอัตโนมัติปลายทางได้
03
การสัมผัสทางไฟฟ้าและการดำเนินการ ATE
นำอุปกรณ์แต่ละชิ้นไปวางไว้ที่หน้าสัมผัสในขณะที่ระบบ ATE ดำเนินการตามโปรแกรมทดสอบที่เลือกและบันทึกผลลัพธ์
04
การคัดแยกผลลัพธ์ การจัดใส่ถัง และการขนถ่าย
นำอุปกรณ์ที่ผ่านการทดสอบแล้วเข้าสู่หมวดหมู่ผลลัพธ์ที่ถูกต้องตามกฎการผ่าน ไม่ผ่าน เกรด หรือกฎการจัดกลุ่มที่ลูกค้ากำหนด
ทิศทางของอุปกรณ์
จับคู่ขั้นตอนการทดสอบกับเส้นทางการติดตั้งอุปกรณ์ที่ถูกต้อง
การจัดวางอุปกรณ์จะแตกต่างกันไปตามว่าการทดสอบนั้นดำเนินการกับแผ่นเวเฟอร์หรือไม่ หลังจากบรรจุภัณฑ์แล้ว ภายใต้การควบคุมอุณหภูมิ หรือเป็นส่วนหนึ่งของการคัดแยกในกระบวนการผลิตความเร็วสูง
| ข้อกำหนดการทดสอบ | อุปกรณ์หลัก | หน้าที่หลัก | จุดเลือกที่สำคัญ |
|---|---|---|---|
| การทดสอบ CP ระดับเวเฟอร์ | เครื่องตรวจสอบเวเฟอร์ + ATE | ตรวจสอบชิ้นส่วนแต่ละชิ้นก่อนตัดแผ่นเวเฟอร์ | ขนาดเวเฟอร์ อินเทอร์เฟซโพรบ การจัดตำแหน่ง และโปรแกรมทดสอบ |
| การทดสอบขั้นสุดท้ายของ IC บรรจุภัณฑ์ | ตัวจัดการการทดสอบ + ATE | การทดสอบทางไฟฟ้าอัตโนมัติและการคัดแยกผลลัพธ์หลังการบรรจุภัณฑ์ | ประเภทบรรจุภัณฑ์ คอนแทคเตอร์ อินเทอร์เฟซทดสอบ และปริมาณงาน |
| การทดสอบแบบร้อนหรือเย็น | เครื่องจัดการทดสอบควบคุมอุณหภูมิ | ปรับสภาพและทดสอบอุปกรณ์ที่อุณหภูมิที่กำหนด | ช่วงอุณหภูมิ ระยะเวลาการแช่ และความเสถียรทางความร้อน |
| การคัดแยกอุปกรณ์ความเร็วสูง | เครื่องยกแบบหมุน แบบใช้แรงโน้มถ่วง หรือแบบหยิบและวาง | การนำเสนออุปกรณ์อย่างรวดเร็ว การทดสอบ และการคัดแยกหลายถัง | เวลาดัชนี การป้องกันแพ็กเกจ และการกำหนดค่าเอาต์พุต |
| วิศวกรรมและการประเมินอุปกรณ์ | สถานีทดสอบหรือแท่นทดสอบแบบยืดหยุ่น | การกำหนดคุณลักษณะของอุปกรณ์ การวิเคราะห์ความล้มเหลว และการทดสอบการพัฒนา | ข้อกำหนดด้านการเข้าถึงการวัด ความยืดหยุ่น และการเปลี่ยนถ่าย |
ลำดับความสำคัญในการคัดเลือก
วิธีการเลือกอุปกรณ์ทดสอบและจัดการเซมิคอนดักเตอร์
ก่อนที่จะเปรียบเทียบรุ่นต่างๆ ให้กำหนดขั้นตอนการทดสอบและเงื่อนไขที่ส่งผลต่อความเข้ากันได้ของอุปกรณ์ ความน่าเชื่อถือของหน้าสัมผัส ผลผลิต และการรองรับอุปกรณ์ในระยะยาว
ขั้นตอนการทดสอบและรูปแบบอุปกรณ์
โปรดตรวจสอบว่าโครงการดังกล่าวเกี่ยวข้องกับการตรวจสอบคุณภาพระดับเวเฟอร์ (CP), การทดสอบขั้นสุดท้ายของอุปกรณ์ที่บรรจุแล้ว, การประเมินทางวิศวกรรม หรือการคัดแยกเพื่อการผลิตหรือไม่
บรรจุภัณฑ์ เครื่องมือ และส่วนต่อประสานการสัมผัส
ตรวจสอบขนาดบรรจุภัณฑ์ รูปแบบสายไฟหรือลูกบอล ซ็อกเก็ต คอนแทคเตอร์ ชุดเปลี่ยน และข้อกำหนดด้านการวางแนวของอุปกรณ์
ข้อกำหนดการทดสอบอุณหภูมิ
กำหนดอุณหภูมิการทดสอบที่ต้องการ วิธีการปรับสภาพ ระยะเวลาการแช่ และความคาดหวังด้านความเสถียรสำหรับอุปกรณ์จริง
อัตราการประมวลผลและเวลาดัชนี
เปรียบเทียบเวลาในการเคลื่อนย้ายเครื่องจักร เวลาในการทดสอบ ความสามารถในการทำงานแบบคู่ขนาน และผลผลิตที่ต้องการ
การบูรณาการและการสื่อสารของเครื่องทดสอบ
ตรวจสอบการเชื่อมต่อทางกล การเชื่อมต่อทางไฟฟ้า โปรโตคอลการสื่อสาร การจัดวางหัวทดสอบ และความเข้ากันได้ของซอฟต์แวร์
การบำรุงรักษาและการสนับสนุนฐานลูกค้าที่ติดตั้งแล้ว
พิจารณาถึงความพร้อมของอะไหล่ ความต่อเนื่องของชุดเปลี่ยนอะไหล่ ความสามารถในการซ่อมแซม ความรู้ของผู้ปฏิบัติงาน และการวางแผนการเปลี่ยนอะไหล่ในอนาคต
การใช้งานอุปกรณ์และบรรจุภัณฑ์
ต้องตรวจสอบการกำหนดค่าอุปกรณ์ให้ตรงกับรูปแบบบรรจุภัณฑ์จริง ข้อกำหนดการทดสอบทางไฟฟ้า และสภาพแวดล้อมการผลิต
การสนับสนุนโครงการที่ยืดหยุ่น
การสนับสนุนที่เหนือกว่าการซื้ออุปกรณ์ใหม่ตามปกติ
การทดสอบอาจต้องใช้แพลตฟอร์มเดิมที่มีอยู่ อุปกรณ์จัดการทดแทน การกำหนดค่าที่เข้ากันได้กับเครื่องทดสอบ ชิ้นส่วนอะไหล่ ฮาร์ดแวร์สำหรับติดต่อ หรือการสนับสนุนการซ่อมแซม เพื่อรักษาระบบการผลิตที่ติดตั้งไว้
สินค้าคงคลังที่มีอยู่และแพลตฟอร์มเดิม
อุปกรณ์ทดสอบมือสองและที่ได้รับการปรับปรุงใหม่
สำรวจเครื่องมือจัดการชิ้นงานทดสอบ เครื่องตรวจสอบเวเฟอร์ แพลตฟอร์ม ATE และอุปกรณ์ทดสอบที่เกี่ยวข้องอื่นๆ ที่มีจำหน่าย เพื่อใช้ในการขยายสายการผลิต การเปลี่ยนรุ่น การใช้งานทางวิศวกรรม หรือการรักษาความต่อเนื่องของการผลิตในระบบเดิม
สำรวจอุปกรณ์ที่มีให้เลือก →
ความต่อเนื่องของฐานลูกค้าที่ติดตั้ง
ชิ้นส่วน ชุดเปลี่ยน และการสนับสนุนตลอดอายุการใช้งาน
รักษาการผลิตที่มีอยู่ด้วยชิ้นส่วนทดสอบ ชุดเปลี่ยนที่เข้ากันได้ ซ็อกเก็ต คอนแทคเตอร์ คำแนะนำในการซ่อมแซม การวางแผนการเปลี่ยน และการสนับสนุนฐานลูกค้าที่ติดตั้งไว้
สำรวจชิ้นส่วนตัวจัดการการทดสอบ →คำถามที่พบบ่อย
คำถามที่พบบ่อยเกี่ยวกับอุปกรณ์ทดสอบและจัดการเซมิคอนดักเตอร์
เครื่องจัดการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ทำหน้าที่อะไร?
เครื่องจัดการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์จะโหลดไอซีที่บรรจุแล้วโดยอัตโนมัติ ปรับสภาพไอซีให้อยู่ในอุณหภูมิที่กำหนด นำอุปกรณ์แต่ละชิ้นไปสัมผัสกับอินเทอร์เฟซ และจัดเรียงอุปกรณ์ที่ทดสอบแล้วตามผลลัพธ์ที่ได้รับจากระบบ ATE
ระบบจัดการการทดสอบ (Test Handler) กับระบบทดสอบอัตโนมัติ (ATE System) แตกต่างกันอย่างไร?
อุปกรณ์ควบคุมการทดสอบจะจัดการการเคลื่อนย้ายอุปกรณ์ อุณหภูมิ ตำแหน่ง การสัมผัส และกระบวนการคัดแยก ส่วนระบบ ATE จะส่งสัญญาณทดสอบทางไฟฟ้า วัดการตอบสนองของอุปกรณ์ และกำหนดผลการทดสอบ โดยปกติแล้วทั้งสองระบบจะทำงานร่วมกัน
CP กับการสอบปลายภาคต่างกันอย่างไร?
CP หรือ Circuit Probing คือการทดสอบชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์แต่ละชิ้นขณะที่ยังอยู่บนแผ่นเวเฟอร์ โดยใช้เครื่องมือตรวจสอบเวเฟอร์และส่วนต่อประสานของหัววัด การทดสอบขั้นสุดท้ายจะดำเนินการหลังจากบรรจุภัณฑ์แล้ว และโดยปกติจะใช้เครื่องจัดการทดสอบ คอนแทคเตอร์ และระบบ ATE เพื่อทดสอบและคัดแยกอุปกรณ์ที่เสร็จสมบูรณ์แล้ว
อุปกรณ์ของฉันควรใช้ตัวจัดการการทดสอบประเภทใด?
ประเภทของอุปกรณ์จับยึดที่เหมาะสมนั้นขึ้นอยู่กับรูปแบบบรรจุภัณฑ์ ความเปราะบางของอุปกรณ์ การวางแนว อุณหภูมิในการทดสอบ ข้อกำหนดด้านปริมาณงาน วิธีการสัมผัส รูปแบบเอาต์พุต และอินเทอร์เฟซของเครื่องทดสอบ อุปกรณ์จับยึดแบบแรงโน้มถ่วง แบบหมุน และแบบหยิบและวาง เหมาะสำหรับสภาพการผลิตที่แตกต่างกัน
เครื่องทดสอบสามารถทำการทดสอบทั้งในสภาวะร้อนและเย็นได้หรือไม่?
เครื่องควบคุมอุณหภูมิสำหรับทดสอบสามารถปรับสภาพอุปกรณ์ก่อนการทดสอบทางไฟฟ้าได้ แต่ช่วงอุณหภูมิที่รองรับและวิธีการปรับเสถียรภาพจะขึ้นอยู่กับการกำหนดค่าของเครื่องจักร ควรตรวจสอบอุณหภูมิที่ต้องการ ระยะเวลาการคงอุณหภูมิ และกำลังการผลิตก่อนเลือกใช้งาน
เครื่องจัดการทดสอบมือสองหรือที่ได้รับการซ่อมแซมใหม่ สามารถนำมาใช้ในกระบวนการผลิตได้หรือไม่?
ใช่แล้ว ความเหมาะสมขึ้นอยู่กับสภาพของเครื่องจักร อุปกรณ์บรรจุภัณฑ์ ความเข้ากันได้ของเครื่องทดสอบ การกำหนดค่าอุณหภูมิ สถานะของระบบควบคุม ความพร้อมของอะไหล่ และปริมาณการผลิตที่ต้องการ ควรตรวจสอบการกำหนดค่าที่แน่นอนก่อนซื้อ
โดยทั่วไปแล้วส่วนประกอบใดบ้างที่จำเป็นสำหรับการสนับสนุนตัวจัดการการทดสอบ?
ชิ้นส่วนที่จำเป็นโดยทั่วไป ได้แก่ ชุดเปลี่ยนแพ็คเกจ ซ็อกเก็ต คอนแทคเตอร์ รัง ราง สายพาน เซ็นเซอร์ มอเตอร์ ชิ้นส่วนนิวแมติก ชิ้นส่วนควบคุมอุณหภูมิ ฮาร์ดแวร์เชื่อมต่อ และโมดูลควบคุม ควรตรวจสอบความเข้ากันได้โดยใช้รุ่นเครื่องจักรและหมายเลขชิ้นส่วน
ในการสอบถามเกี่ยวกับอุปกรณ์ทดสอบ ควรให้ข้อมูลอะไรบ้าง?
โปรดระบุรายละเอียดเกี่ยวกับอุปกรณ์ ได้แก่ บรรจุภัณฑ์ ขนาด แท่นทดสอบ อุณหภูมิที่ต้องการ รุ่นของเครื่องทดสอบ รุ่นของเครื่องจัดการอุปกรณ์ (ถ้าทราบ) อินเทอร์เฟซการสัมผัส จำนวนชั่วโมงการใช้งานที่คาดหวัง รูปแบบข้อมูลเข้าและข้อมูลออก สภาพของอุปกรณ์ที่ต้องการ และประเทศปลายทาง
ต้องการคำแนะนำที่ชัดเจนยิ่งขึ้นเกี่ยวกับอุปกรณ์ทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ใช่ไหม?
โปรดส่งข้อมูลแพ็คเกจอุปกรณ์ ขั้นตอนการทดสอบ รุ่นเครื่องทดสอบ อุณหภูมิที่ต้องการ อัตราการประมวลผลเป้าหมาย หรือการกำหนดค่าตัวจัดการกระแสไฟฟ้า ทีมงานของเราจะตรวจสอบอุปกรณ์และแนวทางการสนับสนุนที่เหมาะสมที่สุดสำหรับโครงการของคุณ