집 > 제품 > 후공정 반도체 장비 > 반도체 테스트 장비 > 탐사 기지 >

ACCRETECH FP2000 프레임 핸들링 웨이퍼 프로버

ACCRETECH FP2000 프레임 핸들링 프로버. UF2000 플랫폼을 기반으로 제작되었으며, 5~8인치 웨이퍼와 다이싱 후 다이를 프레임에 장착하여 처리할 수 있습니다. 위치 보정 소프트웨어는 필름 팽창 및 프레임 장착 오류를 보정하며, ±2μm의 반복 정밀도를 제공합니다.

ACCRETECH FP2000 Frame Handling Wafer Prober 장비 이미지
구성 검토 모델 및 설치된 옵션
신규/중고 공급 프로젝트 가능 여부에 따라 달라질 수 있습니다.
글로벌 배송 목적지 기반 평가
기술 견적 요청 패키지 및 프로세스 매칭

ACCRETECH FP2000은 다음과 같은 기능을 지원함으로써 기존 프로브 장비와 차별화됩니다. 프레임 장착형 웨이퍼 프로빙이 장비는 테이핑 및 다이싱된 웨이퍼 테스트 시나리오에 특화되어 있습니다. 표준 웨이퍼 프로버로는 처리할 수 없는 얇은 다이와 깨지기 쉬운 MEMS 부품에 대한 중간 공정 테스트 요구 사항에 완벽하게 적합합니다.

이 부서는 특수한 방식을 채택합니다. 프레임 클램핑 및 전달 메커니즘 작동 중 다이싱 프레임을 안정적으로 고정합니다. 고정밀 프로빙 중 발생하는 변위 및 칩 손상을 방지하여 변형되거나 초박형 기판 재료에 효과적으로 적응합니다.

유연한 모드 전환 기능을 통해 오리지널 웨이퍼 테스트와 프레임 재질 테스트 간 자유로운 전환이 가능합니다. 안정적인 기계 작동과 정확한 위치 보정을 통해 반도체 패키징 및 테스트 작업장에서 혼합 유형 생산 배치에 대해 일관된 테스트 성능을 제공합니다.

ACCRETECH FP2000 frame handling wafer prober

ACCRETECH FP2000 장비 정보

제조업체ACCRETECH / Tokyo Seimitsu
모델FP2000
장비 유형자동 프레임 핸들링 웨이퍼 프로버
주요 응용 프로그램다이싱 프레임에 부착된 다이싱된 웨이퍼, 패키지 및 호환 장치의 전기적 테스트
프레임 기능제조사 모델 정보에 따른 200mm 프레임 웨이퍼 핸들링
웨이퍼 기능5~8인치 웨이퍼 호환 가능
대표 제품CSP, WLCSP, 다이스 웨이퍼, 패키지 및 호환 가능한 MEMS 애플리케이션
주요 기능프레임 또는 웨이퍼 로딩, 정렬, 위치 보정 및 프로브 카드 접촉
상태중고 반도체 테스트 장비
테스트 구성테스터, 테스트 헤드, 프로브 카드, 척 및 설치된 인터페이스에 따라 결정됩니다.
납품 범위견적서 및 확정된 장비 목록을 기준으로 합니다.
지원하다초기 고장 진단, 부품 매칭 및 수리 논의
해운수출 포장 및 전 세계 배송