웨이퍼 테스트 · 수리 및 재정비
프로브 카드 수리하다
접촉 불량으로 테스트 시간이 낭비되고 있습니다. GK-SEMI는 팁 마모, 접촉 불량 및 정렬 문제로 손상된 반도체 프로브 카드를 수리 및 재정비합니다. 비용이 많이 드는 교체를 하기 전에 원래 카드를 복원하여 사용할 수 있도록 도와드립니다.
시작하려면 카드 식별 정보, 검사 증상 및 접촉 부위 사진을 보내주세요.
저희가 수리하는 품목
프로브 카드 수리 서비스
반복적인 접촉 불량, 접촉 저항 증가, 부분적인 테스트 실패 등으로 인해 멀쩡한 카드도 사용 불가능해 보일 수 있습니다. 저희는 모든 고장을 전체 어셈블리 교체의 이유로 삼는 대신, 문제가 발생한 접촉면과 카드 구조 자체에 초점을 맞춰 수리합니다.
연락처 청소 및 복구
산화, 이물질 및 접촉 오염으로 인한 간헐적 개방, 반복적인 재탐색 및 접촉 저항 증가 문제를 해결합니다. 프로브 재질과 카드 설계에 따라 세척 및 재정비 방법을 선택합니다.
프로브 팁 및 정렬
마모되거나 휘어지거나 변위된 팁을 검사하고, 카드에 따라 재성형, 바늘 교체 또는 부분적인 재정렬이 필요한지 평가하십시오. 모든 카드에 한 번씩 조정하는 대신, 적용 분야에 맞춰 팁의 기하학적 구조, X/Y 위치 및 Z축 평탄도를 검토하십시오.
전기 및 반환 점검
연속성, 접촉 저항(Cres) 및 관련 전기 경로를 조사합니다. 재작업 승인 후, 완료된 검사 및 벤치 테스트 결과와 고객의 웨이퍼 테스트 장비에 필요한 스크럽 마크 또는 접촉 확인 결과를 전달합니다.
왜 우리와 함께 일해야 할까요?
원본 카드를 보관하세요
새 카드는 웨이퍼, 테스터 인터페이스 및 설치된 테스트 설정과 호환되어야 합니다. 기존 카드를 수리하면 실제 접촉 불량 문제를 해결하는 동시에 이러한 호환성을 유지하는 데 도움이 될 수 있습니다.
실패를 극복하는 방법
먼저 접촉 불량 패턴, 테스트 증상 및 기존 카드의 상태를 확인합니다. 이를 통해 수리 경로를 결정하기 전에 카드 손상과 프로버 정렬 또는 기타 테스트 셀 문제를 구분할 수 있습니다.
작업 환경을 보존하세요
표적 재작업은 카드 인터페이스, 패드 패턴 또는 작동 구성을 불필요하게 변경하지 않고 유용한 접점을 복구하는 것을 목표로 합니다. 수리 범위는 카드 설계가 안전하게 지원할 수 있는 범위에 맞춰 조정됩니다.
수리하거나 적합한 제품을 찾아보세요.
손상으로 인해 복구가 불가능한 경우, 당사의 부품 조달 경로는 다음 단계로 나아갈 수 있도록 합니다. 교체 부품 매칭 시에는 외형뿐 아니라 카드 유형, 장치 패드 레이아웃, 테스터 연결 및 적용 분야를 모두 고려합니다.
더 광범위한 테스트 환경을 구축하고 계신가요? 자세히 알아보세요. 프로브 스테이션 보드 수리, ATE 보드 수리 또는 반도체 부품 소싱.
잘못에서 결정으로
수리가 어떻게 진행될 것인가
우리는 보고된 결함과 실제 프로브 카드 설계에 초점을 맞춰 평가를 진행합니다. 합의된 검사 절차는 카드에서 완료된 작업과 웨이퍼 테스터에서의 최종 확인을 구분합니다.
카드를 확인하세요
부품 번호, 카드 유형, 테스트 적용 분야 및 고장 패턴을 검토하십시오.
접점을 점검하십시오
팁 마모, 오염, 정렬 및 기판 상태를 육안으로 검토하십시오.
범위에 합의
해당 카드 제작에 있어 실행 가능한 재작업, 필요한 검사 및 제한 사항을 정의하십시오.
수리를 진행하세요
승인된 세척 작업, 부분적인 팁 작업 또는 정렬 교정을 완료하십시오.
결과를 검토하세요
측정 가능한 경우 관련 접촉 형상, 연속성 및 크레스(Cres)를 확인하십시오.
테스트로 돌아가기
재조립 후 필요한 벤치 작업 경계 및 공구 점검 사항을 보고하십시오.
수리 경험
접촉 안정성 복원됨
국부적인 접촉 불량이 발생한 수직형 프로브 카드는 카드 수준 검사가 교체 결정에 어떤 영향을 미칠 수 있는지를 보여줍니다.
세로형 카드가 테스트로 돌아왔습니다.
문제점은 다음과 같습니다. 웨이퍼 테스트 라인의 수직 프로브 카드에서 접촉 불량률이 급격히 증가했습니다. 해당 어셈블리를 교체하는 방안이 검토 중이었지만, OEM 공급에 상당한 시간이 소요될 것으로 예상되었습니다.
검사 결과 발견된 사항. 관찰된 결함은 한 영역에 집중되어 있었습니다. 전체 카드를 교체해야 할 정도의 심각한 고장이 아니라, 국부적인 산화와 경미한 평탄도 편차가 확인되었습니다.
수리 및 결과. 해당 접점을 세척하고 관련 평탄도 조건을 수정했습니다. 접점 동작이 안정화되어 원래 카드를 다시 생산에 투입할 수 있었고, 전체 카드 교체를 즉시 피할 수 있었습니다.
검증 경계. 카드 레벨 점검을 통해 수리 여부를 결정했으며, 최종 접촉 성능은 설치된 웨이퍼 테스트 애플리케이션에서 확인했습니다.
수리 경험을 바탕으로 작성되었습니다. 결과 및 소요 시간은 해당 카드 및 테스트 설정에 따라 달라집니다.
자주 묻는 질문
프로브 카드 수리 관련 FAQ
카드 종류, 연락처 문제, 반환 수표 및 교체 옵션에 대한 실질적인 답변입니다.
휘거나 부러진 탐침 바늘을 수리할 수 있습니까?
일부 캔틸레버 설계는 부분적인 교정이나 바늘 교체를 허용합니다. 수직 구조와 MEMS 구조는 서로 다른 한계를 가질 수 있습니다. 우리는 방법을 제안하기 전에 실제 구조와 손상 정도를 검토합니다.
청소를 하면 반복적인 재탐색 실패 문제가 해결될까요?
오염이 원인인 경우에만 해당됩니다. 마모된 팁, 평탄도, 프로버 정렬 및 테스트 조건으로 인해 유사한 증상이 나타날 수 있습니다. 정확한 원인 조사를 위해 고장 패턴을 공유해 주세요.
모양을 바꾸면 문지른 자국이 없어질까요?
예. 팁 형상, 위치 및 오버트래블은 스크럽 동작에 영향을 미칩니다. 재성형이 필요한 경우, 해당 패드 치수 및 접촉 요구 사항을 준수해야 하며, 최종 스크럽 확인은 고객 설정에서 이루어져야 합니다.
수리 후 프로브 카드를 어떻게 점검하나요?
점검 사항은 카드 종류와 합의된 범위에 따라 달라집니다. 점검 항목에는 육안 상태, 위치, 연속성 및 접촉 저항 등이 포함될 수 있습니다. 최종 웨이퍼 테스트 수율 및 스크럽 성능은 설치된 테스트 조건에서 확인해야 합니다.
수직형 또는 MEMS 프로브 카드는 모두 수리 가능한가요?
아니요. 일부 구조는 수리 경로가 제한적이며, 프로브 어레이 또는 기판이 손상된 경우 교체가 더 적절할 수 있습니다. 당사는 모든 경우에 적용 가능하다고 보장하는 것이 아니라 카드 설계를 평가합니다.
원본 카드를 찾을 수 없다면 어떻게 해야 할까요?
적합한 대체품을 찾는 것에 대해 논의할 수 있습니다. 적합한 옵션을 좁히기 위해 카드 정보, 테스터 인터페이스, 장치 패드 레이아웃 및 테스트 애플리케이션을 제공해 주십시오.
단종된 프로브 카드를 지원하시나요?
구형 카드도 실질적인 수리가 가능한지 평가할 수 있습니다. 부품 교체 또는 전체 교체가 필요한 경우, 해당 카드와의 호환성 및 재고 여부를 확인합니다.
수리 문의를 하려면 무엇을 보내야 하나요?
모델명 또는 부품 번호, 선명한 카드와 접촉면 사진, 테스터 또는 프로버 사용 방법, 그리고 관찰된 접촉 문제를 알려주세요. 테스트 데이터가 도움이 되지만, 첫 상담 시에는 필수 사항은 아닙니다.
수리팀에 문의하세요
프로브 카드 복구하기
접촉 불량이 발생하는 위치와 설치된 카드 종류를 알려주세요. 저희 팀에서 정확한 수리 방법, 필요한 점검 사항, 그리고 수리가 불가능한 경우 적합한 교체 옵션에 대해 상담해 드리겠습니다.
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