Máy kiểm tra wafer TEL P-12XLn cần bán | Thiết bị đã qua sử dụng, khổ 300mm
Tìm mua máy dò wafer TEL P-12XLn 300mm đã qua sử dụng. So sánh cấu hình, yêu cầu dò tìm và tình trạng thiết bị. Tiếp tục...
Chúng tôi cung cấp các trạm đo đầu dò đã qua sử dụng từ ACCRETECH, TSK, Cascade Microtech, MPI, FormFactor và các nền tảng khác. Trạm đo phù hợp với dây chuyền của bạn phụ thuộc vào bốn yếu tố: định dạng wafer, loại phép đo, giao diện đầu dò và mức độ tự động hóa. Hầu hết các giao dịch mua trạm đo đầu dò đã qua sử dụng gặp sự cố đều do một trong bốn điểm này — chứ không phải do thông số kỹ thuật cơ bản. Hãy cho chúng tôi biết yêu cầu của bạn và chúng tôi sẽ chọn lọc những thiết bị thực sự hoạt động tốt với thiết bị của bạn.
Hai trạm đo có cùng tên model có thể có khả năng rất khác nhau. Mâm cặp, giao diện đầu dò, độ chính xác của bàn đo, các tùy chọn nhiệt độ và phần mềm quan trọng hơn nhiều so với chỉ tên gọi của nền tảng. Hãy xem xét kho hàng hiện tại, sau đó gửi cho chúng tôi yêu cầu đo lường của bạn để kiểm tra cấu hình.
Bạn đang tìm kiếm một máy kiểm tra wafer cụ thể của ACCRETECH, TSK, Cascade Microtech, MPI, FormFactor hoặc hãng khác? Hãy gửi số hiệu model ngay cả khi nó hiện không được hiển thị — nhóm tìm nguồn cung ứng của chúng tôi sẽ kiểm tra tình trạng còn hàng.
Tìm mua máy dò wafer TEL P-12XLn 300mm đã qua sử dụng. So sánh cấu hình, yêu cầu dò tìm và tình trạng thiết bị. Tiếp tục...
Cần bán máy kiểm tra wafer TEL P-12XL 300mm đã qua sử dụng. Vui lòng kiểm tra thông số kỹ thuật, tùy chọn xử lý wafer 200/300mm, yêu cầu kiểm tra...
Tìm mua máy kiểm tra wafer TEL P-8XLm 200mm đã qua sử dụng. Xem xét các thông số kỹ thuật chính, tình trạng thiết bị, khả năng tương thích với ATE và kiểm tra...
Máy dò wafer tự động TEL P-8 8 inch đã được kiểm tra và tân trang lại. Kiểm tra cơ khí toàn diện, hiệu chuẩn độ phẳng mâm cặp...
Máy kiểm tra wafer tự động ACCRETECH / TSK UF3000EX đã qua sử dụng, dùng để kiểm tra wafer 300 mm. GK-SEMI hỗ trợ tìm thiết bị phù hợp...
Máy dò wafer tự động 200 mm. Xử lý wafer 5–8", giao diện MMI từ UF2000. Bàn XY tốc độ lên đến 300 mm/giây. Các tùy chọn...
Máy đo tọa độ Accretech AP3000 đã qua sử dụng. 300mm, hoàn toàn tự động, cổng nạp kép, tương thích FOUP/EFEM. Độ lặp lại XY trong phạm vi...
Máy dò xử lý khung ACCRETECH FP2000. Được xây dựng trên nền tảng UF2000, máy xử lý các tấm wafer 5–8 inch và chip sau khi cắt trên khung...
Chúng tôi đã từng chứng kiến khách hàng mua trạm đo dựa trên độ chính xác của bàn đo, rồi phát hiện ra thiết bị của họ không kết nối được vì giao diện đầu dò không khớp — điều này được ghi trong bảng thông số kỹ thuật. Kết quả cuối cùng phụ thuộc vào đầu dò hoặc thẻ đầu dò, cáp, bộ chuyển mạch, thiết bị đo, hiệu chuẩn và phần mềm. Hãy cho chúng tôi biết bạn đang đo gì và bạn đã có những thiết bị nào, chúng tôi có thể thu hẹp cấu hình mà không cần bạn phải chỉ định từng thành phần trước.
Xác nhận đường kính, độ dày, bố trí chân tiếp xúc, tình trạng mặt sau và xem thiết bị cần kiểm tra (DUT) là toàn bộ tấm wafer, một phần tấm wafer hay chip riêng lẻ.
Các yêu cầu về chân không, nhiệt độ, công suất cao, độ ồn thấp, kín sáng, áp suất hoặc nhiệt độ cực thấp sẽ làm thay đổi cấu hình của trạm.
Chọn các bộ định vị đầu dò riêng lẻ hoặc một thẻ đầu dò dựa trên số lượng điểm tiếp xúc, khoảng cách giữa các điểm tiếp xúc, tần số, dòng điện và độ lặp lại.
Các thiết bị SMU, máy phân tích thông số, máy hiện sóng, VNA, máy phân tích công suất hoặc các thiết bị ATE thực hiện việc kiểm tra điện.
Hiệu quả của quy trình làm việc được quyết định bởi các bước căn chỉnh, định vị, lập bản đồ wafer, trình tự kiểm tra, hiệu chuẩn và xử lý kết quả.
Lối tắt bán hàng: Hãy cho chúng tôi biết bạn đang đo gì và bạn đã có những thiết bị nào. Sau đó, chúng tôi có thể thu hẹp phạm vi yêu cầu về trạm đo, giao diện và tự động hóa mà không cần bạn phải chỉ định từng thành phần trước.
“Trạm đo” là một loại thiết bị có phạm vi rộng. Một hệ thống dùng để đặc trưng hóa tham số DC không tự động phù hợp cho việc thử nghiệm RF, công suất cao, quang học hoặc nhiệt độ cực thấp.
Việc đánh giá đặc tính thiết bị, giám sát quy trình và đo dòng điện thấp có thể yêu cầu các kết nối có bảo vệ hoặc kết nối ba trục, một mâm cặp phù hợp và lớp chắn nhiễu điện từ/ánh sáng.
Việc đo bằng đầu dò tần số cao phụ thuộc vào bộ định vị RF, đầu dò tương thích, chất nền hiệu chuẩn, cáp ổn định và sự căn chỉnh đầu dò với tấm đo được kiểm soát.
Việc kiểm tra chất bán dẫn công suất làm thay đổi các yêu cầu về dòng điện, điện áp, cách điện, kiểm soát nhiệt, bảo vệ chống hồ quang và an toàn cho người vận hành.
Công nghệ quang tử silicon và kiểm tra quang điện tử có thể kết hợp các đầu dò điện với việc căn chỉnh sợi quang, các dụng cụ quang học và chuyển động đồng bộ.
Các phòng thí nghiệm phân tích lỗi và kỹ thuật thường đánh giá cao khả năng truy cập linh hoạt, kính hiển vi, thiết bị thao tác và khả năng thay đổi nhanh chóng giữa các định dạng wafer, chip và bao bì.
Các phép đo ở nhiệt độ thấp, trong môi trường chân không hoặc có từ trường đòi hỏi buồng đo chuyên dụng, các đường dẫn tín hiệu, thiết kế tản nhiệt và vị trí đặt đầu dò tương thích.
Mức độ tự động hóa tối ưu phụ thuộc vào khối lượng thử nghiệm, kích thước wafer, độ khó căn chỉnh, khả năng lặp lại của công thức và mức độ can thiệp của người vận hành mà quy trình có thể chấp nhận.
| Điểm quyết định | Trạm thăm dò thủ công | Trạm thăm dò bán tự động | Máy kiểm tra wafer tự động |
|---|---|---|---|
| Sử dụng điển hình | Nghiên cứu và phát triển, phân tích lỗi, đào tạo và đặc tính hóa sản phẩm với số lượng nhỏ. | Kỹ thuật, kiểm tra tham số và đo lường lặp lại trên tấm wafer có khối lượng trung bình. | Kiểm tra wafer sản xuất, lập bản đồ bước, căn chỉnh tự động và sàng lọc năng suất cao hơn. |
| Vai trò của người vận hành | Người vận hành định vị chính xác tấm bán dẫn, đầu dò và các điểm đo. | Hệ thống sân khấu tự động và phần mềm tự động hóa các chuyển động đã chọn trong khi người vận hành quản lý việc thiết lập. | Quá trình nạp liệu, căn chỉnh, lập bản đồ wafer và trình tự kiểm tra có thể được thực hiện với sự can thiệp tối thiểu. |
| Tính linh hoạt | Cao nhất đối với các thí nghiệm thay đổi. Dễ dàng tiếp cận các đầu dò và thiết bị cần kiểm tra (DUT). | Cân bằng giữa tính linh hoạt với chuyển động lặp lại và khả năng kiểm soát công thức. | Tốt nhất khi định dạng sản phẩm, thẻ thăm dò và quy trình kiểm tra được xác định rõ ràng. |
| Thông lượng | Thấp nhất; chịu ảnh hưởng mạnh mẽ bởi kỹ năng của người vận hành và thời gian thiết lập. | Cải thiện khả năng điều chỉnh bước và căn chỉnh mà không cần tốn toàn bộ chi phí của tự động hóa sản xuất. | Tiềm năng cao nhất, nhưng năng suất thực tế còn phụ thuộc vào thời gian kiểm tra, chất lượng tiếp xúc và thao tác xử lý wafer. |
| Câu hỏi mua hàng tốt nhất | Nền tảng này có hỗ trợ các thiết bị đo và hình dạng đầu dò của tôi không? | Những chức năng di chuyển, căn chỉnh và lập bản đồ nào được tự động hóa? | Bộ nạp, kích thước wafer, giao diện thẻ thăm dò, phạm vi nhiệt độ và giao diện nhà máy nào được bao gồm? |
Kho hàng hiện tại có thể tập trung vào các thiết bị kiểm tra sản xuất. Chúng tôi vẫn có thể xem xét các yêu cầu đối với các trạm thăm dò thủ công, bán tự động, RF, nguồn điện hoặc chuyên dụng thông qua mạng lưới cung ứng.
Hãy hỏi xem loại nào phù hợp.Kết quả tìm kiếm thường lẫn lộn các hệ thống phòng thí nghiệm thủ công nhỏ với các máy dò wafer tự động 200 mm hoặc 300 mm. Những hệ thống này thuộc các phân khúc giá rất khác nhau, vì vậy báo giá hữu ích phải bắt đầu bằng việc xác định kích thước đo dự định và cấu hình thực tế.
Đối với thiết bị đã qua sử dụng, chỉ riêng năm sản xuất không thể quyết định giá trị. Tình trạng của bộ phận nạp liệu, độ chính xác của bàn máy, các tùy chọn về mâm cặp và nhiệt độ, giao diện thẻ cảm biến, phần mềm, bộ điều khiển, phụ kiện và khả năng bảo trì có thể ảnh hưởng lớn hơn đến giá mua cuối cùng.
Yêu cầu báo giá hiện tạiNgười mua thường sử dụng các thuật ngữ này cùng nhau, nhưng mỗi loại thiết bị lại có một chức năng khác nhau. Việc làm rõ ranh giới sẽ tránh được việc báo giá cho một thiết bị dò cơ khí trong khi nhu cầu thực sự là một thiết bị kiểm tra, thẻ dò hoặc thiết bị xử lý đóng gói.
Định vị tấm bán dẫn hoặc chip và tạo tiếp xúc vật lý lặp lại thông qua các đầu dò hoặc thẻ đầu dò.
Xem mô hìnhTạo tín hiệu kích thích thử nghiệm, đo phản hồi của thiết bị và thực thi chương trình kiểm tra điện.
Hệ thống thử nghiệmTạo giao diện điện giữa các điểm tiếp xúc của thiết bị và đường dẫn đo; khoảng cách giữa các chân, tần số và dòng điện phải phù hợp với ứng dụng.
Phạm vi thiết bịCấp liệu, điều chỉnh nhiệt độ và phân loại các thiết bị đã đóng gói sau khi kiểm tra và đóng gói ở cấp độ wafer.
Đọc hướng dẫn làm bài kiểm traBạn không cần phải chuẩn bị bản đặc tả đầy đủ trước khi liên hệ với chúng tôi. Hãy bắt đầu với thiết bị, phép đo và định dạng wafer. Chúng tôi sẽ xác định các điểm cấu hình còn thiếu và kiểm tra thiết bị hiện có so với thiết lập thử nghiệm thực tế.
Bắt đầu yêu cầu thăm dò tại trạm thăm dòLoại sản phẩm, kích thước wafer, bố trí pad, độ dày và định dạng tải.
Đặc tính hóa, phân tích lỗi, sàng lọc sản phẩm, đo tần số vô tuyến (RF), công suất hoặc các phép đo khác.
Mức độ tự động hóa, mâm cặp, bàn đỡ, thẻ đầu dò hoặc bộ định vị, kính hiển vi và vỏ bảo vệ.
Thông tin chi tiết về mẫu mã, số sê-ri, phần mềm, bộ điều khiển, bộ nạp, phụ kiện, tình trạng và hỗ trợ giao hàng.
Những câu trả lời này bao gồm các vấn đề thường ảnh hưởng đến việc lựa chọn, tích hợp và báo giá thiết bị.
Các thuật ngữ này có sự chồng chéo. "Trạm thăm dò" thường được sử dụng cho các nền tảng phân tích hoặc kỹ thuật, trong khi "máy thăm dò wafer" thường mô tả các hệ thống bán tự động hoặc tự động di chuyển trên toàn bộ wafer và có thể bao gồm bộ nạp, lập bản đồ wafer và giao diện sản xuất. Kiến trúc mô hình chính xác quan trọng hơn tên gọi.
Không phải lúc nào cũng vậy. Một trạm đo thường cung cấp khả năng định vị, tiếp xúc và môi trường thử nghiệm. Các thiết bị đo trạng thái (SMU), máy phân tích thông số, VNA, máy hiện sóng hoặc các thiết bị kiểm tra tự động (ATE) có thể là các thiết bị riêng biệt và cần được tích hợp thông qua các đầu dò, cáp, thiết bị chuyển mạch và phần mềm tương thích.
Hệ thống điều khiển thủ công linh hoạt cho nghiên cứu và phát triển cũng như các thí nghiệm thay đổi liên tục. Hệ thống bán tự động bổ sung thêm chuyển động cơ giới lặp lại và khả năng lập bản đồ. Máy dò wafer tự động phù hợp hơn với các quy trình sản xuất xác định, xử lý khay và khối lượng thử nghiệm cao hơn.
Kích thước wafer, mức độ tự động hóa, bộ nạp, mâm cặp, phạm vi nhiệt độ, độ chính xác của bàn đặt mẫu, giao diện đầu dò, kính hiển vi, vỏ bảo vệ, phần mềm, bộ điều khiển, phụ kiện đi kèm và tình trạng thiết bị đều ảnh hưởng đến giá cả. Một hệ thống kiểm tra tự động thủ công quy mô nhỏ trong phòng thí nghiệm không nên được so sánh trực tiếp với một máy kiểm tra tự động dùng trong sản xuất.
Một số nền tảng mô-đun có thể được cấu hình lại, nhưng mâm cặp, đầu dò, cáp, bộ định vị, lớp chắn, thiết kế hiệu chuẩn và an toàn sẽ khác nhau. Cần xác nhận khả năng hỗ trợ cho cấu hình thực tế chứ không nên suy luận từ tên của mô hình cơ bản.
Vui lòng xác nhận đầy đủ thông tin về kiểu máy và số sê-ri, kích thước wafer, bộ nạp, hiệu suất bàn đỡ và căn chỉnh, loại mâm cặp, tùy chọn nhiệt độ, giao diện thẻ thăm dò, bộ điều khiển, phần mềm và giấy phép, phụ kiện đi kèm, tình trạng hoạt động và lịch sử bảo dưỡng.
Hãy gửi model trạm đo hoặc mô tả phép đo bạn cần. Chúng tôi sẽ xác nhận tính khả dụng, cấu hình đầy đủ và khả năng tương thích của phép đo trong vòng 4 giờ làm việc.