Ketepatan ujian yang konsisten merentasi wafer pic halus berketumpatan tinggi dicapai dengan mudah dengan ACCRETECH AP3000. Prober wafer profesional ini mengatasi batasan peralatan probing biasa, sesuai dengan peralatan canggih. Aliran kerja ujian wafer 300mm dan 200mm.
Penekanan getaran adalah teras reka bentuk mekanikalnya. Dengan menggunakan struktur tegar premium dan penentukuran gerakan yang dioptimumkan, peranti ini mengekalkan sentuhan prob yang ultra stabil walaupun semasa pengeluaran besar-besaran berterusan selama berjam-jam, menghapuskan sisihan ujian yang disebabkan oleh gegaran mekanikal.
Fleksibiliti aplikasi yang luas merupakan satu lagi ciri yang menonjol. Ia berfungsi dengan cemerlang pada ujian ketepatan tinggi untuk cip logik, komponen kuasa dan wafer MEMS. Dengan padanan resipi adaptif dan kadar kegagalan operasi yang rendah, ia memberikan operasi di tapak yang andal untuk barisan pembuatan semikonduktor termaju.
Maklumat Mesin ACCRETECH AP3000
| Pengilang | ACCRETECH / Tokyo Seimitsu |
|---|---|
| Model | AP3000 |
| Jenis Peralatan | Prober wafer automatik berprestasi tinggi |
| Saiz Wafer Maksimum | Sehingga 300 mm mengikut maklumat model pengeluar |
| Aplikasi Peranti Lazim | Peranti memori, MPU/SoC, logik dan kuasa |
| Fungsi Utama | Pengendalian wafer, penjajaran, kedudukan dan sentuhan kad probe untuk ujian elektrik |
| Keadaan | Peralatan ujian semikonduktor terpakai |
| Konfigurasi Ujian | Ditentukan oleh penguji, kepala ujian, kad probe, chuck dan antara muka yang dipasang |
| Skop Penghantaran | Berdasarkan sebut harga dan senarai peralatan yang disahkan |
| Sokongan | Semakan kerosakan awal, pemadanan bahagian dan perbincangan pembaikan |
| Penghantaran | Pembungkusan eksport dan penghantaran ke seluruh dunia |
