Prober wafer automatik ACCRETECH UF200R 200mm menggantikan stesen probing tradisional yang besar dengan proses automatik yang diperkemas, sepadan dengan keperluan skala dan daya pemprosesan fabrikasi wafer semikonduktor bersaiz sederhana. Ia menggabungkan penjajaran penglihatan berketepatan tinggi dan kawalan gerakan gelung tertutup, membetulkan anjakan wafer minit dengan berkesan semasa kitaran pantas bagi memastikan ketepatan dan kebolehulangan dengan setiap sentuhan prob.
Direka untuk fleksibiliti proses, sistem ini mengendalikan pelbagai ketebalan wafer dan jenis cip biasa dengan andal. Aliran kerja yang dipermudahkan meminimumkan keperluan persediaan, membolehkan pemeriksaan wafer yang berterusan dan cekap dengan intervensi manual yang minimum.
Maklumat Mesin ACCRETECH UF200R
| Pengilang | ACCRETECH / Tokyo Seimitsu |
|---|---|
| Model | UF200R |
| Jenis Peralatan | Prober wafer automatik berkelajuan tinggi |
| Julat Wafer Standard | Wafer 5 hingga 8 inci mengikut maklumat model pengeluar |
| Sokongan Wafer Pilihan | Ujian wafer 4 inci apabila konfigurasi yang diperlukan dipasang |
| Aplikasi Peranti Lazim | Peranti MEMS diskret, kuasa, logik dan serasi |
| Fungsi Utama | Pengendalian wafer, penjajaran, kedudukan dan sentuhan kad probe untuk ujian elektrik |
| Keadaan | Peralatan ujian semikonduktor terpakai |
| Konfigurasi Ujian | Ditentukan oleh penguji, kepala ujian, kad probe, chuck dan antara muka yang dipasang |
| Skop Penghantaran | Berdasarkan sebut harga dan senarai peralatan yang disahkan |
| Sokongan | Semakan kerosakan awal, pemadanan bahagian dan perbincangan pembaikan |
| Penghantaran | Pembungkusan eksport dan penghantaran ke seluruh dunia |
