RUMAH > Produk > Peralatan Semikonduktor Bahagian Belakang > Peralatan Ujian Semikonduktor > Stesen Siasatan >

Prober Wafer Automatik Sepenuhnya TEL P-8 200mm (8-Inci)

Prober wafer automatik TEL P-8 8 inci yang diuji dan diubah suai. Pemeriksaan mekanikal penuh, penentukuran satah chuck dan pilihan dok penguji. Minta RFQ.

  • Jenama Tokyo Electron (TEL)
  • Saiz Wafer 150 mm (6 inci) 200 mm (8 inci)
  • Model TEL P-8
  • Keadaan Diubah suai / Diuji Sepenuhnya / Sedia untuk Pengeluaran
  • Ketersediaan Ada Stok di GK-SEMI (Sedia untuk Penghantaran Global)
TEL P-8 200mm (8-Inch) Fully Automatic Wafer Prober IMEJ PERALATAN
Semakan Konfigurasi Model dan pilihan yang dipasang
Bekalan Baru / Terpakai Tertakluk kepada ketersediaan projek
Penghantaran Global Penilaian berasaskan destinasi
RFQ Teknikal Pemadanan pakej dan proses

Mengapa Memilih TEL P-8 untuk Pengujian Wafer 200mm?

TEL P-8, yang dikeluarkan oleh Tokyo Electron (TEL), ialah platform probing wafer automatik yang mantap yang digunakan dalam aplikasi pembuatan dan pengujian semikonduktor matang.

Bagi kemudahan yang mengendalikan barisan pengeluaran 150mm dan 200mm, pembelian TEL P-8 terpakai boleh menjadi alternatif praktikal untuk melabur dalam peralatan baharu, terutamanya apabila mengekalkan keserasian dengan program ujian sedia ada, kad prob dan infrastruktur pengeluaran adalah keutamaan.

Platform ini mungkin sesuai untuk aplikasi pengujian peringkat wafer yang melibatkan peranti kuasa, IC isyarat analog dan campuran, semikonduktor diskret dan teknologi semikonduktor matang yang lain, tertakluk kepada keperluan konfigurasi dan proses yang dipasang.

TEL P-8 200mm Automatic Wafer Prober

Kelebihan Utama

Platform Mekanikal yang Ditubuhkan

TEL P-8 menggunakan sistem gerakan jitu yang direka untuk kedudukan dan probing wafer automatik. Ketepatan dan kebolehulangan peringkat hendaklah disahkan melalui pemeriksaan dan penentukuran mesin individu.

Integrasi dengan Sistem Ujian Sedia Ada

Peralatan tersebut boleh dinilai untuk penyepaduan dengan sistem ATE daripada pengeluar seperti Teradyne, Advantest, Credence dan pembekal lain. Keserasian sebenar bergantung pada antara muka penguji, susunan dok, perisian kawalan dan konfigurasi kad prob.

Alat Ganti dan Sokongan Penyelenggaraan

Komponen gantian dan perkhidmatan penyelenggaraan mungkin tersedia untuk pemasangan mekanikal, papan kawalan, motor, sistem optik, komponen vakum dan subsistem berkaitan. Ketersediaan alat ganti disahkan berdasarkan versi mesin dan nombor alat ganti komponen.

Pengembangan Kapasiti Kos Efektif

TEL P-8 terpakai yang telah diperiksa dengan betul boleh membantu mengurangkan kos pemerolehan peralatan apabila mengembangkan kapasiti ujian wafer nod matang atau menggantikan prob sedia ada.

TEL P-8 Wafer Prober

Spesifikasi Teknikal TEL P-8

Spesifikasi berikut menerangkan keupayaan platform umum dan konfigurasi yang mungkin. Spesifikasi yang tepat mesti disahkan terhadap mesin yang tersedia.

PengilangTokyo Electron (TEL)
ModelTEL P-8
Jenis PeralatanProber Wafer Automatik
Saiz Wafer150mm / 200mm, tertakluk kepada konfigurasi mesin
Pemuatan WaferPengendalian wafer automatik; konfigurasi kaset dan pemindahan akan disahkan
Peringkat X/YSistem kedudukan wafer automatik yang tepat
Paksi-ZKawalan pergerakan menegak dan sentuhan probe yang boleh diprogramkan
Penjajaran ThetaPenjajaran putaran wafer; julat pelarasan sebenar perlu disahkan
Sistem PenglihatanPenjajaran wafer optik dan pengecaman corak, bergantung pada perkakasan yang dipasang
Suhu ChuckKonfigurasi kawalan suhu ambien atau pilihan; julat operasi akan disahkan
Antara Muka ATEBergantung pada pengawal, papan antara muka dan perisian yang dipasang
Antara Muka Kad ProbePemegang kad prob dan konfigurasi dok akan disahkan
Keadaan PeralatanPilihan Seperti Ada / Diuji / Diubah suai

Perkhidmatan Pemeriksaan dan Pengubahsuaian Peralatan

GK-SEMI / Xinling menyediakan pemeriksaan peralatan, pengesahan konfigurasi dan sokongan pengubahsuaian mengikut keadaan TEL P-8 yang tersedia dan keperluan pelanggan.

Perkara pemeriksaan dan servis berikut boleh dibincangkan sebelum sebut harga. Skop akhir bergantung pada gred keadaan yang dibeli dan kriteria penerimaan yang dipersetujui.

1. Penentukuran Peringkat dan Pengesahan Gerakan

  • Periksa pemasangan gerakan X, Y dan Z untuk haus mekanikal dan pergerakan yang tidak normal.

  • Bersihkan dan lincirkan laluan panduan dan komponen transmisi mekanikal yang berkenaan.

  • Periksa kedudukan, penjajaran dan kebolehulangan pentas.

  • Sahkan had perjalanan, operasi homing dan sensor yang berkaitan.

2. Pemeriksaan Sistem Chuck dan Suhu

  • Periksa keadaan permukaan chuck wafer dan kestabilan pemasangan.

  • Periksa prestasi penahan vakum chuck.

  • Sahkan pergerakan chuck dan pelarasan aras yang berkenaan.

  • Fungsi kawalan suhu ujian apabila chuck terma dipasang.

3. Penjajaran Optik dan Pengecaman Corak

  • Periksa kamera, kanta dan pemasangan pencahayaan.

  • Periksa kejelasan imej, fokus dan prestasi pencahayaan.

  • Sahkan penjajaran wafer dan fungsi pengecaman corak jika disokong.

  • Nilaikan operasi penjajaran menggunakan wafer ujian yang sesuai apabila tersedia.

4. Pemeriksaan Sistem Pneumatik dan Vakum

  • Periksa tiub pneumatik, pengedap, kelengkapan dan sambungan vakum.

  • Periksa injap vakum dan komponen kawalan yang berkaitan.

  • Sahkan fungsi pengendalian wafer dan vakum chuck.

  • Gantikan komponen yang rosak atau reput jika termasuk dalam skop pengubahsuaian.

5. Pengesahan Sistem Elektrik dan Kawalan

  • Periksa bekalan kuasa, papan kawalan dan sambungan elektrik.

  • Periksa fungsi henti kecemasan dan kunci keselamatan.

  • Sahkan permulaan pengawal dan permulaan mesin.

  • Uji antara muka komunikasi yang tersedia terhadap keperluan ATE pelanggan.

  • Menjalankan ujian berbasikal berfungsi atau larian lanjutan apabila dipersetujui dan boleh dilaksanakan secara teknikal.

Pilihan Penyesuaian dan Pengubahsuaian yang Tersedia

Bergantung pada konfigurasi mesin dan kebolehlaksanaan teknikal, GK-SEMI boleh membantu dengan pengubahsuaian terpilih untuk menyokong operasi ujian semikonduktor sedia ada.

Peningkatan Paparan dan Antara Muka Operator

Komponen paparan legasi mungkin dinilai untuk penggantian atau pemodenan. Keserasian dengan pengawal asal dan antara muka video mesti disahkan sebelum pengubahsuaian.

Pemodenan Penyimpanan Data

Bagi sistem yang menggunakan media storan legasi, penyelesaian emulasi storan keadaan pepejal atau pemacu liut yang serasi boleh dipertimbangkan untuk memudahkan storan dan sandaran program.

Sokongan Docking dan Antara Muka Penguji ATE

Kami boleh menilai pengaturan dok mekanikal, keperluan antara muka penguji, pemasangan kad prob dan komponen sambungan berkaitan mengikut platform ATE sedia ada pelanggan.

Pengendalian Wafer dan Substrat Khas

Pengubahsuaian pengendalian untuk wafer nipis, substrat khas atau konfigurasi wafer bukan standard boleh dinilai berdasarkan projek. Kebolehlaksanaan bergantung pada mekanisme pemindahan, reka bentuk chuck dan ciri-ciri substrat.

Apa yang Perlu Disahkan Sebelum Membeli TEL P-8

Untuk mengesyorkan konfigurasi yang sesuai dan memberikan sebut harga yang tepat, sila kongsikan maklumat berikut dengan pasukan peralatan kami.

Spesifikasi Wafer

  • Diameter wafer: 150mm atau 200mm

  • Ketebalan wafer dan bahan substrat

  • Pengmetalan bahagian belakang atau keperluan permukaan khas

  • Sebarang keperluan pengendalian wafer khas

Syarat Ujian

  • Julat suhu ujian yang diperlukan

  • Keperluan sentuhan prob dan overdrive

  • Ketepatan kedudukan dan kebolehulangan yang diperlukan

  • Keperluan penjajaran wafer dan pengecaman corak

Konfigurasi Kad Penguji dan Probe

  • Pengilang dan model ATE

  • Dimensi kad prob dan jenis antara muka

  • Susunan dok penguji dan manipulator sedia ada

  • Antara muka komunikasi yang diperlukan

Utiliti Kilang

  • Voltan dan frekuensi bekalan kuasa yang tersedia

  • Keperluan udara kering termampat

  • Bekalan vakum yang tersedia

  • Ruang pemasangan dan keperluan bilik bersih

Bekalan Peralatan TEL P-8 dan Penghantaran Seluruh Dunia

GK-SEMI / Xinling membekalkan peralatan semikonduktor terpakai kepada pelanggan di seluruh dunia. Kami menyokong penyumberan peralatan, pemeriksaan konfigurasi, penyelarasan pemeriksaan, keperluan alat ganti dan pengaturan penghantaran antarabangsa.

Mesin TEL P-8 yang tersedia mungkin berbeza dari segi tahun pengeluaran, versi pengawal, aksesori pengendalian wafer, jenis chuck dan perkakasan antara muka yang dipasang.

Sebelum mengesahkan pesanan, pasukan kami boleh membantu mengesahkan konfigurasi peralatan terhadap aplikasi yang anda inginkan dan membincangkan dokumentasi pemeriksaan yang tersedia, keadaan penghantaran dan keperluan penerimaan.

Pembungkusan eksport, perlindungan kelembapan dan peti kayu pelindung boleh diatur mengikut dimensi peralatan, kaedah penghantaran dan keperluan pelanggan.

Minta Sebut Harga TEL P-8

Mencari prob wafer automatik TEL P-8 200mm untuk barisan pengeluaran semikonduktor, projek penggantian peralatan atau kemudahan R&D anda?

Hubungi GK-SEMI / Xinling untuk membincangkan ketersediaan mesin, pilihan keadaan, konfigurasi yang serasi dan pengaturan penghantaran.

Bergantung pada peralatan yang tersedia dan skop pemeriksaan yang dipersetujui, kami boleh menyediakan gambar mesin, maklumat konfigurasi, video ujian fungsian dan dokumentasi pemeriksaan.

Peralatan: Prober Wafer Automatik TEL P-8

Saiz Wafer:150mm / 200mm

Bekalan: Terpakai / Diperiksa / Diubah suai

Penghantaran: Seluruh dunia

Hantarkan saiz wafer, model penguji dan konfigurasi peralatan yang diperlukan kepada kami untuk menerima sebut harga yang disesuaikan.