TRANG CHỦ > Các sản phẩm > Thiết bị bán dẫn hậu kỳ > Thiết bị xử lý wafer > Máy cưa cắt lát >

Máy cắt laser đa chùm ASMPT ALSI LASER1205

Hệ thống cắt laser đa chùm ASMPT ALSI LASER1205 xử lý các tấm wafer có kích thước từ 10-250μm với độ chính xác định vị <1,5μm và chiều rộng vết cắt <12μm. Nhanh hơn 50% so với các phương pháp thông thường. Lý tưởng cho việc tách riêng các tấm wafer SiC, GaAs và Low-K.

ASMPT ALSI LASER1205 Multi-Beam Laser Dicing Machine HÌNH ẢNH THIẾT BỊ
Đánh giá cấu hình Mẫu mã và các tùy chọn đã cài đặt
Nguồn cung mới/đã qua sử dụng Tùy thuộc vào tình trạng sẵn có của dự án
Giao hàng toàn cầu Đánh giá dựa trên điểm đến
Yêu cầu báo giá kỹ thuật (Technical RFQ) Phù hợp gói hàng và quy trình

ASMPT ALSI LASER1205 cho phép cắt và tạo rãnh bằng laser đa chùm tia chính xác. Hệ thống quang học laser đa chùm tia độc quyền và công nghệ điều khiển chuyển động từng bước trên tấm wafer giúp giảm thiểu hư hại do nhiệt trong khi vẫn đảm bảo năng suất cao.

Bằng cách xử lý đồng thời nhiều chùm tia laser, năng lượng được phân bố đều dọc theo đường cắt, nhờ đó giảm thiểu sự tích tụ nhiệt cục bộ; phương pháp này bảo vệ hiệu quả các lớp điện môi có hằng số điện môi thấp và các chip mỏng, ngăn ngừa nứt vỡ hoặc các vấn đề về cấu trúc. Hệ thống thực hiện giám sát thời gian thực đường cắt trong quá trình xử lý để phát hiện sớm các khuyết tật và giảm thiểu phế phẩm. Hệ thống phù hợp với cả wafer trần và wafer được gắn trên khung băng cắt, và hỗ trợ nhiều độ dày chất nền khác nhau.

ASMPT ALSI LASER1205 Multi-Beam Laser Dicing Machine

Các tính năng chính:

  • Công nghệ đa chùm tia: Quy trình laser đa chùm tia được cấp bằng sáng chế cho phép đạt được chiều rộng cắt nhỏ hơn 12μm trên tấm silicon dày 100μm. Công suất thấp trên mỗi chùm tia nhưng nhiều chùm tia cho phép tốc độ loại bỏ vật liệu cao với vùng ảnh hưởng nhiệt tối thiểu (HAZ < 2μm).

  • Khả năng xử lý wafer siêu mỏng: Xử lý các wafer có độ dày từ 10μm đến 250μm với độ chính xác định vị và khả năng tái tạo nhỏ hơn 1,5μm — hoạt động nhanh hơn khoảng 50% so với các phương pháp cắt laser thông thường.

  • Công nghệ V-Process được cấp bằng sáng chế cho việc cắt lát toàn bộ: Cho phép cắt lát toàn bộ các tấm wafer Si Low-K (mỏng) bao gồm DAF hoặc FOW trong khi vẫn đạt được độ bền chip cao (450-500MPa) và độ gờ thấp (<5μm). Một bước xử lý duy nhất loại bỏ các bước sản xuất bổ sung cần thiết cho các công nghệ cắt lát DBG hoặc lai.

  • Khái niệm thanh trượt chính xác: Khái niệm máy khắc wafer độc đáo cho phép độ chính xác cao và khả năng tái tạo kết quả trong mọi điều kiện xử lý.

Thông số kỹ thuật:

Thông số kỹ thuậtĐơn vịGiá trị
Phương pháp xử lý–Cắt bằng laser đa tia
Phạm vi độ dày waferμm10 – 250
Độ chính xác định vịμm< 1.5
Độ rộng vết cắt (100μm Si)μm< 12
Vùng ảnh hưởng nhiệt (HAZ)μm< 2
Bước sóng tia cực tímnm355
Bước sóng hồng ngoạinm1064
Kích thước waferinchTối đa 12

Ứng dụng:

Lý tưởng cho việc tách linh kiện điện tử SiC, cắt chip RF GaAs, tách tấm wafer mỏng Low-K, cắt linh kiện MEMS và các ứng dụng đóng gói tiên tiến yêu cầu giảm thiểu hư hại do nhiệt.