ACCRETECH AP3000 可輕鬆實現高密度細間距晶圓的穩定測試精度。這款專業晶圓探針台突破了普通探針設備的局限性，完美適用於精密複雜的晶圓製造流程。 300mm 和 200mm 晶圓測試工作流程.
振動抑制是其機械設計的核心。該設備採用優質剛性結構和優化的運動校準，即使在長時間連續批量生產中也能保持探頭接觸的超穩定，從而消除機械抖動引起的測試偏差。
應用範圍廣、靈活性高是其另一個亮點。它在邏輯晶片、功率元件和MEMS晶圓的高精度測試方面表現出色。憑藉自適應配方匹配和低運行故障率，它可為先進的半導體生產線提供可靠的現場運行。
ACCRETECH AP3000 機器信息
| 製造商 | ACCRETECH / 東京精密 |
|---|---|
| 模型 | AP3000 |
| 設備類型 | 高性能自動晶圓探針 |
| 最大晶圓尺寸 | 根據製造商的型號信息，最大可達 300 毫米。 |
| 典型設備應用 | 記憶體、MPU/SoC、邏輯和功率元件 |
| 主要功能 | 用於電氣測試的晶圓處理、對準、定位和探針卡接觸 |
| 狀態 | 二手半導體測試設備 |
| 測試配置 | 由測試器、測試頭、探針卡、卡盤和已安裝的介面決定 |
| 交貨範圍 | 根據報價和已確認的設備清單 |
| 支援 | 初步故障排除、零件匹配和維修討論 |
| 船運 | 出口包裝和全球配送 |
