RUMAH > Produk > Peralatan Semikonduktor Bahagian Belakang > Peralatan Ujian Semikonduktor > Pengendali Ujian >

Pengendali Ujian ASM MS100 Plus

ASM MS100 Plus ialah penyusun acuan pemetaan wafer dengan daya pemprosesan sehingga 6,000 UPH, ketepatan putaran acuan ±1° dan pengendalian wafer 2–6 inci. Ia memilih acuan yang diketahui baik daripada data peta ujian dan meletakkannya ke dalam pembawa, bingkai, dulang atau tiub menggunakan penyambung bebas berganda dan penjajaran penglihatan bersepadu.

ASM MS100 Plus Test Handler IMEJ PERALATAN
Semakan Konfigurasi Model dan pilihan yang dipasang
Bekalan Baru / Terpakai Tertakluk kepada ketersediaan projek
Penghantaran Global Penilaian berasaskan destinasi
RFQ Teknikal Pemadanan pakej dan proses

ASM MS100 Plus ialah penyusun dan peletak acuan pemetaan wafer yang dinaik taraf, dibina di atas platform MS100 dengan kelajuan, kestabilan pengendalian dan kapasiti pemprosesan yang dipertingkatkan. Ia membaca data lulus/gagal dan gred daripada fail pemetaan ujian bahagian hadapan, kemudian memilih acuan daripada wafer atau bingkai filem yang dipotong dadu dan meletakkannya ke kedudukan output yang ditetapkan mengikut kategori.

Platform ini mengendalikan wafer dari 2 hingga 6 inci, dengan 2–4 inci sebagai konfigurasi standard. Output boleh dihalakan ke pembawa, bingkai, dulang atau tiub, bergantung pada modul output yang dipasang. Daya pemprosesan yang diterbitkan mencapai sehingga 100 kitaran pengambilan seminit — kira-kira 6,000 UPH — dengan putaran acuan dikekalkan dalam lingkungan ±1°. Sistem penyambung bebas berganda menyokong konfigurasi jarum tunggal atau berganda, dan sistem penglihatan bersepadu melakukan pengesahan penjajaran berganda sebelum setiap penempatan.

ASM MS100 Plus Test Handler

Oleh kerana MS100 Plus merupakan platform yang boleh dikonfigurasikan, dua unit di bawah nama model yang sama boleh membawa perkakasan pikap, meja wafer, pembawa output dan lesen perisian yang berbeza. Bahagian di bawah merangkumi keupayaan teknikal platform terlebih dahulu, diikuti dengan pertimbangan konfigurasi dan perolehan untuk unit terpakai.

Spesifikasi Utama

ParameterSpesifikasi
Jenis PeralatanPenyusun acuan pemetaan wafer / penyusun cip
Kitaran PengambilanSehingga 100 kitaran/min (6,000 UPH)
Ketepatan Putaran Acuan±1°
Ketepatan Penempatan±1 juta (purata)
Saiz Bingkai Wafer / Filem2–6 inci (standard 2–4 inci, sehingga 6 inci)
Sokongan Wafer LanjutanWafer eutektik sehingga 8 inci (dengan pendakap boleh laras ketinggian)
Julat Daya Ikatan40g – 250g
Media KeluaranPembawa, bingkai, dulang, tiub
Konfigurasi PenyambungPenyambung bebas berganda; jarum tunggal atau jarum berganda
Penyimpanan ProgramSehingga 200 fail program
Penggunaan Kuasa1300W (110VAC)
Voltan Input100–240 VAC, 50/60Hz
Keperluan Udara Mampat87 PSI (6 bar)
Penggunaan Udara Mampat155 LPM
Pembinaan KerangkaRangka keluli berkekuatan tinggi dengan pelekap peredam getaran getah

Nota Konfigurasi & Perolehan

MS100 Plus ialah platform yang boleh dikonfigurasikan. Dua unit yang membawa nama model yang sama boleh mempunyai perkakasan pikap, saiz meja wafer, modul pembawa output dan tahap lesen perisian yang berbeza. Jika anda menilai unit terpakai, berikut adalah perkara yang menentukan sama ada ia benar-benar akan menjalankan produk anda:

  • Format wafer/bingkai. Sahkan meja wafer dan penyesuai bingkai yang dipasang sepadan dengan saiz wafer dan dimensi bingkai filem anda. Konfigurasi standard mengendalikan 2–4 inci; sokongan 6 inci dan 8 inci memerlukan perkakasan khusus.

  • Peralatan pengambilan. Periksa set muncung dan jarum yang disertakan. Peralatan bergantung pada saiz acuan — persediaan yang dioptimumkan untuk acuan 0.3mm tidak akan berfungsi untuk acuan 2mm tanpa menukar peralatan.

  • Modul output. Pembawa, bingkai, dulang dan tiub setiap satu memerlukan modul output yang berbeza. Pastikan unit dihantar bersama modul yang sepadan dengan pembungkusan hiliran anda.

  • Versi dan lesen perisian. Keserasian format fail peta, kapasiti storan program dan sebarang algoritma pengisihan pilihan mungkin bergantung pada versi.

  • Penentukuran sistem penglihatan. Minta rekod penentukuran dan sahkan ketepatan penjajaran penglihatan pada wafer sampel jika boleh.

  • Sejarah servis. Untuk peralatan kitaran tinggi, tanyakan tentang jangka hayat kepala pemotong acuan, sejarah penggantian tali sawat/pengumpan dan sebarang rekod penyelenggaraan motor servo.