01
Pengendali Ujian
Sistem pengendalian IC automatik untuk pemuatan peranti, penyaman suhu, sentuhan ujian, pengisihan keputusan dan pemunggahan terkawal semasa ujian akhir.
Penyelesaian Ujian & Pengendalian Semikonduktor
Penyelesaian Peralatan Ujian & Pengendalian Semikonduktor
Terokai penyelesaian peralatan untuk probing peringkat wafer, pengendalian peranti berpakej, ujian elektrik, penyaman haba dan pengisihan keputusan automatik. Kami membantu pengeluar semikonduktor, kemudahan OSAT dan operasi ujian mengenal pasti pengendali ujian, sistem ATE, stesen prob dan skop sokongan yang sesuai dengan peranti sebenar, peringkat ujian dan sasaran pengeluaran.
Perspektif Proses Ujian
Bina laluan peralatan di sekitar peranti, antara muka penguji, julat suhu dan daya pemprosesan pengeluaran yang diperlukan.
Apa yang diliputi oleh penyelesaian ini
Peralatan ujian dan pengendalian semikonduktormenggerakkan wafer atau IC yang dibungkus ke kedudukan ujian terkawal, mewujudkan sentuhan elektrik yang boleh dipercayai, mengurus suhu yang diperlukan dan memisahkan peranti mengikut keputusan ujian. Penyelesaian lengkap boleh menggabungkan prob wafer atau pengendali ujian, sistem ATE, perkakasan sentuhan, kit perubahan, kawalan haba dan fungsi pengisihan automatik.
Kategori Peralatan Teras
Tiga Kawasan Peralatan Teras untuk Pengujian Semikonduktor.
Pilih laluan peralatan mengikut sama ada projek memerlukan probing peringkat wafer, automasi peranti pakej atau pelaksanaan ujian elektrik.
Keserasian peralatan mesti dinilai menggunakan format peranti, peringkat ujian, antara muka penguji, kaedah sentuhan dan output pengeluaran yang dijangkakan.
02
Sistem ATE
Peralatan ujian automatik untuk menggunakan program ujian elektrik, mengukur prestasi peranti dan menjana keputusan lulus, gagal dan binning.
03
Stesen Probe & Wafer Prober
Kedudukan wafer jitu dan platform sentuhan prob untuk probing litar, pengukuran elektrik aras wafer dan pengenalpastian acuan yang diketahui baik.
Terokai Stesen Probe →
Di Mana Peralatan Sesuai
Daripada Prob Wafer hingga Ujian Akhir dan Pengisihan Peranti.
Pengujian semikonduktor bergantung kepada lebih daripada sekadar penguji. Persembahan peranti, kebolehulangan sentuhan, kestabilan suhu, masa ujian dan logik pengisihan mesti berfungsi bersama untuk mengekalkan hasil yang boleh dipercayai dan kecekapan pengeluaran.
01
Probing Litar Aras Wafer
Letakkan wafer dengan tepat, jajarkan antara muka prob dan kenal pasti acuan yang boleh diterima secara elektrik sebelum memotong dadu.
02
Pemuatan Peranti & Penyaman Terma
Muatkan peranti yang dibungkus secara automatik dan stabilkannya pada suhu ujian yang diperlukan sebelum bersentuhan. Untuk komponen pukal yang serasi, a sistem pengumpan mangkuk getaran tersuai boleh memisahkan, mengorientasikan dan memindahkan bahagian ke dalam salur masuk pengendali atau antara muka automasi hiliran.
03
Perlaksanaan Sentuhan Elektrik & ATE
Perkenalkan setiap peranti kepada antara muka kenalan semasa sistem ATE menggunakan program ujian yang dipilih dan merekodkan keputusan.
04
Pengisihan Keputusan, Pengisihan & Pemunggahan
Mengarahkan peranti yang diuji ke dalam kategori output yang betul mengikut peraturan lulus, gagal, gred atau penimbangan yang ditentukan pelanggan.
Arah Peralatan
Padankan Peringkat Ujian dengan Laluan Peralatan yang Betul.
Kombinasi peralatan berubah mengikut sama ada ujian dilakukan pada wafer, selepas pembungkusan, di bawah suhu terkawal atau sebagai sebahagian daripada pengisihan pengeluaran berkelajuan tinggi.
| Keperluan Ujian | Peralatan Utama | Fungsi Utama | Titik Pemilihan Utama |
|---|---|---|---|
| Ujian CP Tahap Wafer | Wafer Prober + ATE | Individu prob mati sebelum wafer dipotong dadu | Saiz wafer, antara muka prob, penjajaran dan program ujian |
| Ujian Akhir IC Berbungkus | Pengendali Ujian + ATE | Ujian elektrik automatik dan pengisihan keputusan selepas pembungkusan | Jenis pakej, kontaktor, antara muka penguji dan daya pemprosesan |
| Ujian Panas atau Sejuk | Pengendali Ujian Kawalan Suhu | Kondisikan dan uji peranti pada suhu yang diperlukan | Julat suhu, masa rendaman dan kestabilan terma |
| Pengisihan Peranti Berkelajuan Tinggi | Pengendali Turret, Graviti atau Pick-and-Place | Pembentangan peranti pantas, pengujian dan penyusunan berbilang tong | Masa indeks, perlindungan pakej dan konfigurasi output |
| Penilaian Kejuruteraan & Peranti | Stesen Probe atau Platform Ujian Fleksibel | Pencirian peranti, analisis kegagalan dan pengujian pembangunan | Akses pengukuran, fleksibiliti dan keperluan pertukaran |
Keutamaan Pemilihan
Cara Memilih Peralatan Ujian & Pengendalian Semikonduktor.
Sebelum membandingkan model, tentukan peringkat ujian dan syarat-syarat yang mempengaruhi keserasian peranti, kebolehpercayaan sentuhan, output dan sokongan peralatan jangka panjang.
Peringkat Ujian & Borang Peranti
Sahkan sama ada projek tersebut melibatkan CP peringkat wafer, ujian akhir peranti pakej, penilaian kejuruteraan atau pengisihan pengeluaran.
Antara Muka Pakej, Peralatan & Hubungan
Semak dimensi pakej, susun atur plumbum atau bola, soket, kontaktor, kit penukaran dan keperluan orientasi peranti.
Keperluan Ujian Suhu
Tentukan suhu ujian yang diperlukan, kaedah pengkondisian, masa rendaman dan jangkaan kestabilan untuk peranti sebenar.
Daya pemprosesan & Masa Indeks
Bandingkan masa pergerakan pengendali, masa ujian penguji, keupayaan tapak selari dan output pengeluaran yang diperlukan.
Integrasi & Komunikasi Penguji
Sahkan dok mekanikal, antara muka elektrik, protokol komunikasi, susunan kepala ujian dan keserasian perisian.
Penyelenggaraan & Sokongan Pangkalan Terpasang
Pertimbangkan ketersediaan alat ganti, kesinambungan kit ganti, keupayaan pembaikan, pengetahuan pengendali dan perancangan penggantian masa hadapan.
Aplikasi Peranti dan Pakej
Konfigurasi peralatan mesti disahkan untuk format pakej sebenar, keperluan ujian elektrik dan persekitaran pengeluaran.
Sokongan Projek Fleksibel
Sokongan Melangkaui Pembelian Peralatan Baharu Standard.
Operasi ujian mungkin memerlukan platform legasi yang tersedia, pengendali penggantian, konfigurasi serasi penguji, alat ganti, perkakasan kenalan atau sokongan pembaikan untuk menyelenggara pengeluaran yang dipasang.
Inventori & Platform Legasi yang Tersedia
Peralatan Ujian Terpakai & Diperbaharui
Terokai pengendali ujian, prober wafer, platform ATE dan peralatan ujian berkaitan yang tersedia untuk pengembangan talian, penggantian model, penggunaan kejuruteraan atau kesinambungan pengeluaran legasi.
Terokai Peralatan yang Tersedia →
Kesinambungan Pangkalan Dipasang
Alat Ganti, Kit Tukar & Sokongan Kitaran Hayat
Mengekalkan pengeluaran sedia ada dengan alat ganti pengendali ujian, kit perubahan yang serasi, soket, penyentuh, arahan pembaikan, perancangan penggantian dan sokongan tapak terpasang.
Terokai Bahagian Pengendali Ujian →Soalan Lazim
Soalan Lazim Peralatan Ujian & Pengendalian Semikonduktor.
Apakah tugas pengendali ujian semikonduktor?
Pengendali ujian semikonduktor memuatkan IC yang dibungkus secara automatik, mengkondisikannya pada suhu yang diperlukan, mempersembahkan setiap peranti ke antara muka sentuhan dan menyusun peranti yang diuji mengikut keputusan yang diterima daripada sistem ATE.
Apakah perbezaan antara pengendali ujian dan sistem ATE?
Pengendali ujian menguruskan pergerakan fizikal peranti, suhu, kedudukan, sentuhan dan proses pengisihan. Sistem ATE menggunakan isyarat ujian elektrik, mengukur tindak balas peranti dan menentukan keputusan ujian. Kedua-dua sistem biasanya beroperasi bersama.
Apakah perbezaan antara CP dan ujian akhir?
CP, atau litar probing, menguji individu acuan semasa ia masih berada di atas wafer menggunakan antara muka prob dan prob wafer. Ujian akhir dilakukan selepas pembungkusan dan biasanya menggunakan pengendali ujian, kontaktor dan sistem ATE untuk menguji dan menyusun peranti yang telah siap.
Jenis pengendali ujian yang manakah sesuai untuk peranti saya?
Jenis pengendali yang betul bergantung pada format pakej, kerapuhan peranti, orientasi, suhu ujian, keperluan daya pemprosesan, kaedah sentuhan, format output dan antara muka penguji. Pengendali graviti, turet dan pilih dan letakkan sesuai untuk keadaan pengeluaran yang berbeza.
Bolehkah pengendali ujian melakukan ujian panas dan sejuk?
Pengendali ujian yang berkemampuan suhu boleh mengkondisikan peranti sebelum ujian elektrik, tetapi julat dan kaedah penstabilan yang disokong bergantung pada konfigurasi mesin. Suhu, masa rendaman dan output pengeluaran yang diperlukan hendaklah disahkan sebelum pemilihan.
Bolehkah pengendali ujian terpakai atau yang diubah suai sesuai untuk pengeluaran?
Ya. Kesesuaian bergantung pada keadaan mesin, perkakas pakej, keserasian penguji, konfigurasi suhu, status sistem kawalan, ketersediaan alat ganti dan output pengeluaran yang diperlukan. Konfigurasi yang tepat harus diperiksa sebelum pembelian.
Bahagian apakah yang biasanya diperlukan untuk sokongan pengendali ujian?
Keperluan biasa termasuk kit perubahan pakej, soket, penyentuh, sarang, trek, tali sawat, sensor, motor, komponen pneumatik, bahagian kawalan suhu, perkakasan antara muka dan modul kawalan. Keserasian harus disahkan menggunakan model mesin dan nombor bahagian.
Apakah maklumat yang perlu diberikan untuk pertanyaan peralatan ujian?
Berikan pakej peranti, dimensi, peringkat ujian, suhu yang diperlukan, model penguji, model pengendali jika diketahui, antara muka sentuhan, UPH yang dijangkakan, format input dan output, keadaan peralatan pilihan dan negara destinasi.
Perlukan Arahan Peralatan Ujian Semikonduktor yang Lebih Jelas?
Hantar pakej peranti, peringkat ujian, model penguji, suhu yang diperlukan, daya pemprosesan sasaran atau konfigurasi pengendali semasa. Pasukan kami akan menyemak peralatan dan laluan sokongan yang paling praktikal untuk projek anda.